| http://dbpedia.org/ontology/abstract
|
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопи … Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) — полуколичественный спектроскопический метод исследования элементного состава, химического и электронного состояния атомов, на поверхности изучаемого материала. Он основан на явлении внешнего фотоэффекта. Спектры РФЭС получают облучением материала пучком рентгеновских лучей с регистрацией зависимости количества испускаемых электронов от их энергии связи. Исследуемые электроны эмиттируются по всей глубине проникновения используемого мягкого рентгеновского излучения в исследуемый образец (обычно порядка 1 мкм, что очень много по сравнению с размерами атомов и молекул). Однако, выбитые рентгеновскими квантами электроны сильно поглощаются исследуемым веществом настолько, что эмиттированные на глубине около 100 Å они уже не могут достичь поверхности, испуститься в вакуум и, соответственно, быть детектированными прибором. Именно поэтому методом РФЭС можно собрать информацию о самых верхних (около 10-30) атомных слоях образца без информации об его объеме. Поэтому РФЭС незаменим, как метод анализа и контроля в ряде отраслей таких, как полупроводниковая индустрия, гетерогенный катализ и т.д. РФЭС — метод анализа поверхности, который может быть использован для анализа химического состояния материала как в его первоначальном состоянии, так и после некоторой обработки, например скола, разреза или очистки в воздухе или сверхвысоком вакууме для исследования внутреннего химического состава образца, облучения высокоэнергетическим пучком ионов для очистки поверхности от загрязнений, нагрева образца, чтобы изучить изменения вследствие нагревания, помещения в атмосферу реактивного газа или раствора, облучения ионами с целью их внедрения, облучения ультрафиолетовым светом. Поскольку для возбуждения фотоэмиссии используется излучение с известной длиной волны, энергия связи испускаемых электронов может быть найдена по уравнению, следующему из закона сохранения энергии: , где — энергия связи электрона, — энергия возбуждающего фотона, — фиксируемая в эксперименте кинетическая энергия электрона, φ — работа выхода спектрометра.электрона, φ — работа выхода спектрометра.
, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is … X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique based on the photoelectric effect that can identify the elements that exist within a material (elemental composition) or are covering its surface, as well as their chemical state, and the overall electronic structure and density of the electronic states in the material. XPS is a powerful measurement technique because it not only shows what elements are present, but also what other elements they are bonded to. The technique can be used in line profiling of the elemental composition across the surface, or in depth profiling when paired with ion-beam etching. It is often applied to study chemical processes in the materials in their as-received state or after cleavage, scraping, exposure to heat, reactive gasses or solutions, ultraviolet light, or during ion implantation. XPS belongs to the family of photoemission spectroscopies in which electron population spectra are obtained by irradiating a material with a beam of X-rays. Chemical states are inferred from the measurement of the kinetic energy and the number of the ejected electrons. XPS requires high vacuum (residual gas pressure p ~ 10−6 Pa) or ultra-high vacuum (p < 10−7 Pa) conditions, although a current area of development is ambient-pressure XPS, in which samples are analyzed at pressures of a few tens of millibar. When laboratory X-ray sources are used, XPS easily detects all elements except hydrogen and helium. The detection limit is in the parts per thousand range, but parts per million (ppm) are achievable with long collection times and concentration at top surface. XPS is routinely used to analyze inorganic compounds, metal alloys, semiconductors, polymers, elements, catalysts, glasses, ceramics, paints, papers, inks, woods, plant parts, make-up, teeth, bones, medical implants, bio-materials, coatings, viscous oils, glues, ion-modified materials and many others. Somewhat less routinely XPS is used to analyze the hydrated forms of materials such as hydrogels and biological samples by freezing them in their hydrated state in an ultrapure environment, and allowing multilayers of ice to sublime away prior to analysis. of ice to sublime away prior to analysis.
, Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія … Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (англ. X-ray photoelectron spectroscopy) — метод визначення елементного складу твердої поверхні шляхом бомбардування її рентгенівським випроміненням і реєстрації кількості утворених фотоелектронів як функції енергії (або частоти випромінення). Широко використовується для ідентифікації елементів, їх концентрацій та їх хімічного стану як у самому зразку, так і на його поверхні. У твердофазній комбінаторній хімії застосовується шляхом включення міченого атома у лінкер. шляхом включення міченого атома у лінкер.
, A espectroscopia de fotoelétrons excitados … A espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X ou XPS (do inglês X-ray photoelectron spectroscopy, também conhecida por espectroscopia de elétrons para análise química (ESCA, electron spectroscopy for chemical analysis) ou às vezes por espectroscopia Röntgen de fotoelétrons, é uma técnica experimental de análise que encontra grande aplicação em áreas onde o estudo físico-químico de amostras mostre-se importante. Em especial, é de grande valia em trabalhos na área da física do estado sólido. Na prática uma técnica de análise de superfície, a espectroscopia XPS fundamenta-se no efeito fotoelétrico, efeito experimentalmente descoberto por Heinrich Hertz em 1887 e teoricamente explicado por Albert Einstein em 1905, explicação teórica que lhe valeu o Prêmio Nobel de Física em 1921. Em essência, esta técnica consiste em se iluminar uma amostra com raios X e em coletar os fotoelétrons por ela emitidos em um , dispositivo esse capaz de resolvê-los em função das respectivas velocidades (energias cinéticas) e de, então, contá-los. Um gráfico de contagem de elétrons x velocidade (corrente x energia cinética) é estabelecido por varredura, geralmente através de um mecanismo de coleta de dados automatizado, e um espectro de XPS é obtido. Os espectros XPS permitem identificar quantitativamente, em profundidades da ordem de dezenas de nanômetros e com incerteza de fração centesimal de camada atômica, todos os elementos químicos na superfície da amostra, suas concentrações relativas, o ambiente químico dos elementos - seus estados de oxidação - e em casos específicos permite inclusive inferir a morfologia da superfície em análiseerir a morfologia da superfície em análise
, X線光電子分光（エックスせんこうでんしぶんこう）は、光電子分光の1種である。略称はXPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) または ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, エスカ)。サンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することができる。他にもPES、PS等とも呼ばれる。
, La espectrometría fotoelectrónica X o espe … La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el ánodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vacío debido a que a presiones mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser del orden de varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medición de la superficie que realmente se quiere analizar. Fue desarrollada en la Universidad de Upsala (Suecia) en la década de 1960, bajo la dirección de Kai Siegbahn, lo que le valió el premio Nobel en 1981. El método anteriormente se llamaba espectroscopia electrónica para análisis químico o ESCA (en inglés, electron spectroscopy for chemical analysis).ctron spectroscopy for chemical analysis).
, X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectrosc … X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用於测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素和的定量技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术需要在超高真空环境下进行。在几十个毫巴气压下分析样品的常压XPS技术也有所发展。 XPS是一种表面化学分析技术，可以用来分析金属材料在特定状态下或在一些加工处理后的表面化学。这些加工处理方法包括空气或超高真空中的压裂、切割、刮削，用於清除某些表面污染的，为研究受热时的变化而置于加热环境，置于可反应的气体或溶剂环境，置于离子注入环境，以及置于紫外线照射环境等。
* XPS也被称作ESCA，这是化学分析用电子能谱学（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）的简称。
* XPS能够检测到所有原子序数大于等于3的元素（即包括锂及所有比锂重的元素），而不能检测到氢和氦。
* 对大多数元素而言的大约为千分之几，在特定条件下检出极限也有可能达到百万分之几，例如元素在表面高度集中或需要长时间的累积时间。
* XPS被广泛应用於分析无机化合物、合金、半导体、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙齿、骨骼、、生物材料、油脂、胶水等。 XPS可以用来测量：
* 表面的元素构成（通常范围为1纳米到10纳米）
* 纯净材料的实验式
* 不纯净表面的杂质的元素构成
* 表面每一种元素的化学态和电子态
* 表面元素构成的均匀性 进行X射线光电子能谱技术可以采用商业公司或个人制造的XPS系统，也可采用一个基于同步加速器的光源和一台特别设计的电子分析器组合而成。商业公司制造的XPS系统通常采用光束长度为20至200微米的单色铝Kα线，或者采用10至30微米的复色镁射线。某些经特殊设计的少数XPS系统可以用於分析高温或低温下的挥发性液体和气体材料，以及在压强大约为1托的真空下进行工作，但这类XPS系统通常都相对少见。 由于对特定波长的X射线，其能量是已知的，对于每一个出射电子所具有的电子结合能可以由下面公式求出： 其中是电子结合能，是所用的X射线的光子的能量，是被测量到的电子的动能，是（而不是材料）的功函数，与材料表面相关。这一公式是基于欧内斯特·卢瑟福在1914年的工作得来的。）的功函数，与材料表面相关。这一公式是基于欧内斯特·卢瑟福在1914年的工作得来的。
, XPS مطيافية الاشعه السينيه الإلكتروضوئية م … XPS مطيافية الاشعه السينيه الإلكتروضوئية مطيافية الاشعة السينية : هي تقنية طيفية تقوم بقياس التكوين العنصري، الصيغة التجريبية، الحالة الكيميائية والحالة الإلكترونية للعناصر الموجودة في المادة المكونه لسطح عينة ما .يتم الحصول على الاشعه السينية المستخدمة عن طريق اشعاع مادة مع شعاع من الاشعة السينية حيث يتم قياس الطاقة الحركية وعدد الالكترونات.مطيافية الاشعه السينية تستخدم لقياس أسطح المواد الكيميائية في حالتها الطبيعية أو في الحالة المعالجة مثل التكسير أو القطع أو التجريف في الهواء .
* • يعرف مطيافية الاشعه السينية (بالإنكليزية ESCA - Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) أي التحليل الطيفي الإلكتروني للتحليل الكيميائي، وهو اختصار قدمته مجموعة أبحاث كاي سيغبان للتأكيد على المعلومات الكيميائية (وليس عنصرية فقط) التي توفرها هذه التقنية.
* • من حيث المبدأ يكشف مطيافية الاشعه السينية جميع العناصر. في الممارسة العملية، باستخدام مصادر الأشعة السينية المخبرية على نطاق المختبر، مطيافية الاشعه السينية بالكشف عن جميع العناصر مع عدد ذري (الليثيومZ=3 ) وما فوق. فإنه لا يمكن بسهولة الكشف عن الهيدروجين (Z = 1) أو الهيليوم (Z=2)
* • وتستخدم مطيافية الاشعه السينية بشكل روتيني لتحليل المركبات غير العضوية والسبائك المعدنية وأشباه الموصلات والبوليمرات والعناصر والمحفزات والنظارات والسيراميك والدهانات والأوراق والأحبار والغابات وقطع النبات والمكياج والأسنان والعظام والغرسات الطبية والمواد الحيوية، والزيوت اللزجة، والمواد اللاصقة.
* • أقل استخداما بشكل روتيني لتحليل الأشكال المائية لبعض المواد المذكورة أعلاه عن طريق تجميد العينات في حالتها المائية في بيئة نقية جدا، والسماح أو التسبب متعددة الطبقات من الجليد إلى سامية بعيدا قبل التحليل. يسمح تحليل مطيافية الاشعه السينية المائي هذا ببنية عينة رطبة، والتي قد تكون مختلفة عن هياكل العينات المجففة بالهواء، والتي يجب دراستها في هيكلها المائي الأكثر استخداما. العديد من المواد الحيوية مثل الهلاميات المائية هي أمثلة على هذه العينات.لهلاميات المائية هي أمثلة على هذه العينات.
, La spectrométrie photoélectronique X, ou s … La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X. Dans une expérience XPS, l'échantillon est bombardé par des rayons X d'une certaine longueur d'onde, ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l'échantillon. Pour une analyse qualitative, l'élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1 %, tandis qu'une analyse quantitative peut être effectuée si 5 % de l'élément est présent. Elle a été mise au point à l'université d'Uppsala (Suède) dans les années 1960, sous la direction de Kai Siegbahn, ce qui lui a valu le prix Nobel en 1981. La méthode était anciennement nommée ESCA (electron spectroscopy for chemical analysis : spectroscopie d'électron pour l'analyse chimique).copie d'électron pour l'analyse chimique).
, Rentgenowska spektrometria fotoelektronów … Rentgenowska spektrometria fotoelektronów (XPS, z ang. X-ray photoelectron spectroscopy) – odmiana spektroskopii elektronowej polegająca na analizie rozkładu energii kinetycznej fotoelektronów emitowanych w wyniku wzbudzenia próbki promieniowaniem charakterystycznym z zakresu miękkiego promieniowania rentgenowskiego. miękkiego promieniowania rentgenowskiego.
, espectroscòpia de fotoelectrons emesos per … espectroscòpia de fotoelectrons emesos per Raigs X (XPS) és una Espectroscòpia semi-quantitativa i de baixa resolució espacial que habitualment s'utilitza per estimar l'estequiometria (amb un error del 10% aproximadament), estat químic i l'estructura electrònica dels elements que hi ha en un material. Els espectres XPS són obtinguts quan una mostra és irradiada per raigs X (habitualment l'ànode potser d'Al o Mg) mentre es mesura l'energia cinètica i el nombre d'electrons que escapen de la superfície del material analitzat. Per a una mesura de XPS es requereixen condicions d'ultraalt buit pel fet que a pressions majors la taxa dadsorció de contaminació sobre la mostra pot ser de l'ordre de diverses monocapes atòmiques per segon, impedint la mesurament de la superfície que realment es vol analitzar. superfície que realment es vol analitzar.
, Röntgenphotoelektronenspektroskopie (engli … Röntgenphotoelektronenspektroskopie (englisch: X-ray photoelectron spectroscopy, XPS, oft auch electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) ist eine etablierte Methode aus der Gruppe der Photoelektronenspektroskopien (PES), um die chemische Zusammensetzung vor allem von Festkörpern bzw. deren Oberfläche zerstörungsfrei zu bestimmen. Man erhält dabei zunächst eine Antwort auf die Frage der qualitativen Elementanalyse, also aus welchen chemischen Elementen der Festkörper besteht. Lediglich Wasserstoff und Helium können aufgrund geringer Wirkungsquerschnitte nicht direkt nachgewiesen werden. Die Informationstiefe entspricht der Ausdringtiefe der ungestreuten bzw. elastisch gestreuten Elektronen und beträgt in der Regel bis zu drei Nanometer. Mit winkelaufgelöster Photoelektronenspektroskopie wird die elektronische Struktur eines Festkörpers untersucht.che Struktur eines Festkörpers untersucht.
, La spettroscopia fotoelettronica a raggi X … La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, comunemente indicata con XPS o XPES (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, per la precisione una spettroscopia ESCA, utilizzata per sondare le superfici dei materiali. Essa consente infatti di conoscere gli elementi chimici che compongono la superficie di un materiale e di determinarne talvolta lo stato di legame. determinarne talvolta lo stato di legame.
|
| http://dbpedia.org/ontology/thumbnail
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/System2.gif?width=300 +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageExternalLink
|
http://www.iso.ch +
, http://www2.warwick.ac.uk/fac/sci/physics/research/condensedmatt/surface/exp/xps/links/ +
, http://www.xpsdata.com +
, http://www.elettra.trieste.it/elettra-beamlines/superesca.html +
, http://www.elettra.trieste.it/lightsources/labs-and-services/surface-lab/instrument-description.html +
, http://www.elettra.trieste.it/lightsources/labs-and-services/surface-lab/x-ray-photoelectron-spectroscopy.html +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageID
|
70847
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageLength
|
45108
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageRevisionID
|
1114730044
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageWikiLink
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Atomic_physics +
, http://dbpedia.org/resource/Ink +
, http://dbpedia.org/resource/Synchrotron +
, http://dbpedia.org/resource/Ceramic +
, http://dbpedia.org/resource/Plasmon +
, http://dbpedia.org/resource/Sodium_chloride +
, http://dbpedia.org/resource/Angle-resolved_photoemission_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Detection_limit +
, http://dbpedia.org/resource/Ultra-high_vacuum +
, http://dbpedia.org/resource/Coordination_number +
, http://dbpedia.org/resource/X-ray +
, http://dbpedia.org/resource/Photoelectron_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Helium +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_configuration +
, http://dbpedia.org/resource/Inorganic_compound +
, http://dbpedia.org/resource/Photoemission_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Oxford_University +
, http://dbpedia.org/resource/Nobel_Prize +
, http://dbpedia.org/resource/Hydrogel +
, http://dbpedia.org/resource/Signal-to-noise_ratio +
, http://dbpedia.org/resource/Nobel_Prize_in_Physics +
, http://dbpedia.org/resource/Fermi%27s_Golden_Rule +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Molecular_physics +
, http://dbpedia.org/resource/Spectrum +
, http://dbpedia.org/resource/Debye%E2%80%93Waller_factor +
, http://dbpedia.org/resource/Element_%28chemistry%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Glue +
, http://dbpedia.org/resource/Full_width_at_half_maximum +
, http://dbpedia.org/resource/Parts_per_thousand +
, http://dbpedia.org/resource/Bremsstrahlung +
, http://dbpedia.org/resource/Albert_Einstein +
, http://dbpedia.org/resource/Ion_beam +
, http://dbpedia.org/resource/Oil +
, http://dbpedia.org/resource/Miller_index +
, http://dbpedia.org/resource/Metal_alloy +
, http://dbpedia.org/resource/Wood +
, http://dbpedia.org/resource/Glass +
, http://dbpedia.org/resource/Kai_Siegbahn +
, http://dbpedia.org/resource/Paint +
, http://dbpedia.org/resource/File:Wide.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Semiconductor +
, http://dbpedia.org/resource/File:XPS_PHYSICS.png +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Surface_science +
, http://dbpedia.org/resource/Heinrich_Rudolf_Hertz +
, http://dbpedia.org/resource/Hydrate +
, http://dbpedia.org/resource/List_of_materials_analysis_methods +
, http://dbpedia.org/resource/Hydrogen +
, http://dbpedia.org/resource/Quartz +
, http://dbpedia.org/resource/Sweden +
, http://dbpedia.org/resource/Helmholtz_coils +
, http://dbpedia.org/resource/Wilhelm_R%C3%B6ntgen +
, http://dbpedia.org/resource/Cosmetics +
, http://dbpedia.org/resource/David_W._Turner +
, http://dbpedia.org/resource/Parts_per_million +
, http://dbpedia.org/resource/Ultraviolet_photoelectron_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Paper +
, http://dbpedia.org/resource/Uppsala +
, http://dbpedia.org/resource/Micrometre +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Electron_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Henry_Moseley +
, http://dbpedia.org/resource/Imperial_College_London +
, http://dbpedia.org/resource/Hewlett-Packard +
, http://dbpedia.org/resource/Implant_%28medicine%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Phonon +
, http://dbpedia.org/resource/Mu-metal +
, http://dbpedia.org/resource/Volta_potential +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_multiplier +
, http://dbpedia.org/resource/File:Silver_Target_in_XPS_Spectrometer_cropped.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Emission_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/File:System2.gif +
, http://dbpedia.org/resource/File:Example_of_an_XPS_tool.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Hires.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Binding_energy +
, http://dbpedia.org/resource/Bone +
, http://dbpedia.org/resource/Teeth +
, http://dbpedia.org/resource/Work_function +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_binding_energy +
, http://dbpedia.org/resource/Coating +
, http://dbpedia.org/resource/Ion_implantation +
, http://dbpedia.org/resource/Wiggler_%28synchrotron%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Photoemission_electron_microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Undulator +
, http://dbpedia.org/resource/Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Rydberg_ionization_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/International_Organization_for_Standardization +
, http://dbpedia.org/resource/Kinetic_energy +
, http://dbpedia.org/resource/Hemispherical_electron_energy_analyzer +
, http://dbpedia.org/resource/Polymer +
, http://dbpedia.org/resource/Conservation_of_energy +
, http://dbpedia.org/resource/Electron +
, http://dbpedia.org/resource/Mean_squared_displacement +
, http://dbpedia.org/resource/Hard_x-ray +
, http://dbpedia.org/resource/Chemical_state +
, http://dbpedia.org/resource/Beer%E2%80%93Lambert_law +
, http://dbpedia.org/resource/Photoelectric_effect +
, http://dbpedia.org/resource/World_War_II +
, http://dbpedia.org/resource/NMR_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Catalyst +
, http://dbpedia.org/resource/Auger_electron_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Inelastic_mean_free_path +
|
| http://dbpedia.org/property/wikiPageUsesTemplate
|
http://dbpedia.org/resource/Template:X-ray_science +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Branches_of_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Reflist +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Convert +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Citation_needed +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Short_description +
, http://dbpedia.org/resource/Template:ISBN +
|
| http://purl.org/dc/terms/subject
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Atomic_physics +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Electron_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Molecular_physics +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Surface_science +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Emission_spectroscopy +
|
| http://purl.org/linguistics/gold/hypernym
|
http://dbpedia.org/resource/Technique +
|
| http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
|
http://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_photoelectron_spectroscopy?oldid=1114730044&ns=0 +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/depiction
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Wide.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Hires.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/XPS_PHYSICS.png +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/System2.gif +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Example_of_an_XPS_tool.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Silver_Target_in_XPS_Spectrometer_cropped.jpg +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/isPrimaryTopicOf
|
http://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_photoelectron_spectroscopy +
|
| owl:sameAs |
http://et.dbpedia.org/resource/R%C3%B6ntgenfotoelektronspektroskoopia +
, http://fr.dbpedia.org/resource/Spectrom%C3%A9trie_photo%C3%A9lectronique_X +
, http://ru.dbpedia.org/resource/%D0%A0%D0%B5%D0%BD%D1%82%D0%B3%D0%B5%D0%BD%D0%BE%D0%B2%D1%81%D0%BA%D0%B0%D1%8F_%D1%84%D0%BE%D1%82%D0%BE%D1%8D%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D0%B0%D1%8F_%D1%81%D0%BF%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%BA%D0%BE%D0%BF%D0%B8%D1%8F +
, http://rdf.freebase.com/ns/m.0jb6n +
, http://fa.dbpedia.org/resource/%D8%B7%DB%8C%D9%81%E2%80%8C%D8%A8%DB%8C%D9%86%DB%8C_%D9%81%D9%88%D8%AA%D9%88%D8%A7%D9%84%DA%A9%D8%AA%D8%B1%D9%88%D9%86_%D9%BE%D8%B1%D8%AA%D9%88_%D8%A7%DB%8C%DA%A9%D8%B3 +
, http://it.dbpedia.org/resource/Spettroscopia_fotoelettronica_a_raggi_X +
, http://www.wikidata.org/entity/Q899559 +
, https://global.dbpedia.org/id/53mUk +
, http://zh.dbpedia.org/resource/X%E5%B0%84%E7%BA%BF%E5%85%89%E7%94%B5%E5%AD%90%E8%83%BD%E8%B0%B1%E5%AD%A6 +
, http://uk.dbpedia.org/resource/%D0%A0%D0%B5%D0%BD%D1%82%D0%B3%D0%B5%D0%BD%D1%96%D0%B2%D1%81%D1%8C%D0%BA%D0%B0_%D1%84%D0%BE%D1%82%D0%BE%D0%B5%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D0%B0_%D1%81%D0%BF%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%BA%D0%BE%D0%BF%D1%96%D1%8F +
, http://ca.dbpedia.org/resource/Espectrosc%C3%B2pia_de_fotoelectrons_emesos_per_raigs_X +
, http://pt.dbpedia.org/resource/Espectroscopia_de_fotoel%C3%A9trons_excitados_por_raios_X +
, http://es.dbpedia.org/resource/Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X +
, http://cy.dbpedia.org/resource/Sbectrosgopeg_ffotoelectron_pelydr-X +
, http://dbpedia.org/resource/X-ray_photoelectron_spectroscopy +
, http://ar.dbpedia.org/resource/%D9%85%D8%B7%D9%8A%D8%A7%D9%81%D9%8A%D8%A9_%D8%A7%D9%84%D8%A3%D8%B4%D8%B9%D8%A9_%D8%A7%D9%84%D8%B3%D9%8A%D9%86%D9%8A%D8%A9_%D8%A8%D8%A7%D9%84%D8%A5%D9%84%D9%83%D8%AA%D8%B1%D9%88%D9%86_%D8%A7%D9%84%D8%B6%D9%88%D8%A6%D9%8A +
, http://he.dbpedia.org/resource/XPS +
, http://de.dbpedia.org/resource/R%C3%B6ntgenphotoelektronenspektroskopie +
, http://ja.dbpedia.org/resource/X%E7%B7%9A%E5%85%89%E9%9B%BB%E5%AD%90%E5%88%86%E5%85%89 +
, http://pl.dbpedia.org/resource/Spektroskopia_fotoelektron%C3%B3w_w_zakresie_promieniowania_X +
, http://yago-knowledge.org/resource/X-ray_photoelectron_spectroscopy +
|
| rdf:type |
http://dbpedia.org/class/yago/WikicatScientificTechniques +
, http://dbpedia.org/class/yago/Technique105665146 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Ability105616246 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Method105660268 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Know-how105616786 +
, http://dbpedia.org/ontology/TopicalConcept +
, http://dbpedia.org/class/yago/PsychologicalFeature100023100 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Cognition100023271 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Abstraction100002137 +
|
| rdfs:comment |
A espectroscopia de fotoelétrons excitados … A espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X ou XPS (do inglês X-ray photoelectron spectroscopy, também conhecida por espectroscopia de elétrons para análise química (ESCA, electron spectroscopy for chemical analysis) ou às vezes por espectroscopia Röntgen de fotoelétrons, é uma técnica experimental de análise que encontra grande aplicação em áreas onde o estudo físico-químico de amostras mostre-se importante. Em especial, é de grande valia em trabalhos na área da física do estado sólido.balhos na área da física do estado sólido.
, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопи … Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) — полуколичественный спектроскопический метод исследования элементного состава, химического и электронного состояния атомов, на поверхности изучаемого материала. Он основан на явлении внешнего фотоэффекта. Спектры РФЭС получают облучением материала пучком рентгеновских лучей с регистрацией зависимости количества испускаемых электронов от их энергии связи. Исследуемые электроны эмиттируются по всей глубине проникновения используемого мягкого рентгеновского излучения в исследуемый образец (обычно порядка 1 мкм, что очень много по сравнению с размерами атомов и молекул). Однако, выбитые рентгеновскими квантами электроны сильно поглощаются исследуемым веществом настолько, что эмиттированные на глубине около 100 Å они уже не могут достичь повероколо 100 Å они уже не могут достичь повер
, Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія … Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (англ. X-ray photoelectron spectroscopy) — метод визначення елементного складу твердої поверхні шляхом бомбардування її рентгенівським випроміненням і реєстрації кількості утворених фотоелектронів як функції енергії (або частоти випромінення). Широко використовується для ідентифікації елементів, їх концентрацій та їх хімічного стану як у самому зразку, так і на його поверхні. У твердофазній комбінаторній хімії застосовується шляхом включення міченого атома у лінкер. шляхом включення міченого атома у лінкер.
, La spettroscopia fotoelettronica a raggi X … La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, comunemente indicata con XPS o XPES (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, per la precisione una spettroscopia ESCA, utilizzata per sondare le superfici dei materiali. Essa consente infatti di conoscere gli elementi chimici che compongono la superficie di un materiale e di determinarne talvolta lo stato di legame. determinarne talvolta lo stato di legame.
, La spectrométrie photoélectronique X, ou s … La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X. Dans une expérience XPS, l'échantillon est bombardé par des rayons X d'une certaine longueur d'onde, ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l'échantillon. Pour une analyse qualitative, l'élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1 %, tandis qu'une analyse quantitative peut être effectuée si 5 % de l'élément est présent.effectuée si 5 % de l'élément est présent.
, X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectrosc … X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用於测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素和的定量技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术需要在超高真空环境下进行。在几十个毫巴气压下分析样品的常压XPS技术也有所发展。 XPS是一种表面化学分析技术，可以用来分析金属材料在特定状态下或在一些加工处理后的表面化学。这些加工处理方法包括空气或超高真空中的压裂、切割、刮削，用於清除某些表面污染的，为研究受热时的变化而置于加热环境，置于可反应的气体或溶剂环境，置于离子注入环境，以及置于紫外线照射环境等。 XPS可以用来测量：
* 表面的元素构成（通常范围为1纳米到10纳米）
* 纯净材料的实验式
* 不纯净表面的杂质的元素构成
* 表面每一种元素的化学态和电子态
* 表面元素构成的均匀性 由于对特定波长的X射线，其能量是已知的，对于每一个出射电子所具有的电子结合能可以由下面公式求出： 其中是电子结合能，是所用的X射线的光子的能量，是被测量到的电子的动能，是（而不是材料）的功函数，与材料表面相关。这一公式是基于欧内斯特·卢瑟福在1914年的工作得来的。）的功函数，与材料表面相关。这一公式是基于欧内斯特·卢瑟福在1914年的工作得来的。
, Röntgenphotoelektronenspektroskopie (engli … Röntgenphotoelektronenspektroskopie (englisch: X-ray photoelectron spectroscopy, XPS, oft auch electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) ist eine etablierte Methode aus der Gruppe der Photoelektronenspektroskopien (PES), um die chemische Zusammensetzung vor allem von Festkörpern bzw. deren Oberfläche zerstörungsfrei zu bestimmen. Man erhält dabei zunächst eine Antwort auf die Frage der qualitativen Elementanalyse, also aus welchen chemischen Elementen der Festkörper besteht. Lediglich Wasserstoff und Helium können aufgrund geringer Wirkungsquerschnitte nicht direkt nachgewiesen werden. Die Informationstiefe entspricht der Ausdringtiefe der ungestreuten bzw. elastisch gestreuten Elektronen und beträgt in der Regel bis zu drei Nanometer. Mit winkelaufgelöster Photoelektronenspektros winkelaufgelöster Photoelektronenspektros
, espectroscòpia de fotoelectrons emesos per … espectroscòpia de fotoelectrons emesos per Raigs X (XPS) és una Espectroscòpia semi-quantitativa i de baixa resolució espacial que habitualment s'utilitza per estimar l'estequiometria (amb un error del 10% aproximadament), estat químic i l'estructura electrònica dels elements que hi ha en un material. Els espectres XPS són obtinguts quan una mostra és irradiada per raigs X (habitualment l'ànode potser d'Al o Mg) mentre es mesura l'energia cinètica i el nombre d'electrons que escapen de la superfície del material analitzat.n de la superfície del material analitzat.
, La espectrometría fotoelectrónica X o espe … La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. los elementos que existen en un material.
, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is … X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique based on the photoelectric effect that can identify the elements that exist within a material (elemental composition) or are covering its surface, as well as their chemical state, and the overall electronic structure and density of the electronic states in the material. XPS is a powerful measurement technique because it not only shows what elements are present, but also what other elements they are bonded to. The technique can be used in line profiling of the elemental composition across the surface, or in depth profiling when paired with ion-beam etching. It is often applied to study chemical processes in the materials in their as-received state or after cleavage, scraping, exposure to heat,fter cleavage, scraping, exposure to heat,
, Rentgenowska spektrometria fotoelektronów … Rentgenowska spektrometria fotoelektronów (XPS, z ang. X-ray photoelectron spectroscopy) – odmiana spektroskopii elektronowej polegająca na analizie rozkładu energii kinetycznej fotoelektronów emitowanych w wyniku wzbudzenia próbki promieniowaniem charakterystycznym z zakresu miękkiego promieniowania rentgenowskiego. miękkiego promieniowania rentgenowskiego.
, X線光電子分光（エックスせんこうでんしぶんこう）は、光電子分光の1種である。略称はXPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) または ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, エスカ)。サンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することができる。他にもPES、PS等とも呼ばれる。
, XPS مطيافية الاشعه السينيه الإلكتروضوئية م … XPS مطيافية الاشعه السينيه الإلكتروضوئية مطيافية الاشعة السينية : هي تقنية طيفية تقوم بقياس التكوين العنصري، الصيغة التجريبية، الحالة الكيميائية والحالة الإلكترونية للعناصر الموجودة في المادة المكونه لسطح عينة ما .يتم الحصول على الاشعه السينية المستخدمة عن طريق اشعاع مادة مع شعاع من الاشعة السينية حيث يتم قياس الطاقة الحركية وعدد الالكترونات.مطيافية الاشعه السينية تستخدم لقياس أسطح المواد الكيميائية في حالتها الطبيعية أو في الحالة المعالجة مثل التكسير أو القطع أو التجريف في الهواء .ثل التكسير أو القطع أو التجريف في الهواء .
|
| rdfs:label |
Espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X
, Spectrométrie photoélectronique X
, Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X
, مطيافية الأشعة السينية بالإلكترون الضوئي
, X線光電子分光
, Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
, Röntgenphotoelektronenspektroskopie
, X-ray photoelectron spectroscopy
, Spettroscopia fotoelettronica a raggi X
, Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
, Espectroscòpia de fotoelectrons emesos per raigs X
, X射线光电子能谱学
|
