| http://dbpedia.org/ontology/abstract
|
Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) ε … Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) είναι ένα από τα όργανα της ηλεκτρονικής μικροσκοπίας, με το οποίο μπορούμε να εξετάζουμε την επιφάνεια αντικειμένων με την χρήση ηλεκτρονικής δέσμης. Σε αντιστοιχία με τα μικροσκόπια που χρησιμοποιούν φως και κοινούς φακούς για την δημιουργία ειδώλου ενός αντικειμένου, στο ΗΜΣ χρησιμοποιούνται ηλεκτρόνια και ηλεκτρομαγνητικοί φακοί για την δημιουργία ειδώλου της επιφανείας ενός αντικειμένου στην οθόνη ηλεκτρονικού υπολογιστή ή μιας τηλεόρασης. Για τη λειτουργία αυτού του οργάνου είναι απαραίτητη συνθήκη να δημιουργείται ικανοποιητικό "κενό" με διαρκή άντληση του αέρα μετά την εισαγωγή του προς εξέταση αντικειμένου (δείγματος) στο μικροσκόπιο. αντικειμένου (δείγματος) στο μικροσκόπιο.
, Сканувальний електронний мікроскоп (англ. … Сканувальний електронний мікроскоп (англ. Scanning Electron Microscope, SEM) — науковий прилад, що дозволяє одержувати зображення поверхні зразка з великою роздільною здатністю (менше мікрометра). Зображення, одержані за допомогою растрового електронного мікроскопа, є тривимірними і зручними для вивчення структури сканованої поверхні. Ряд додаткових методів (EDX, WDX- методи), дозволяє отримувати інформацію про хімічний склад приповерхневих шарів.ю про хімічний склад приповерхневих шарів.
, Svepelektronmikroskop, Scanning electron m … Svepelektronmikroskop, Scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster. Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets , sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga.
* Dessa pollenkorn är tagna med hjälp av en SEM och visar karaktär på skärpedjup på SEM mikroskopfotografering.
* SEM öppnad provbehållare.
* Analog typ av scanning med elektronmikroskop.log typ av scanning med elektronmikroskop.
, 주사전자현미경(走査電子顯微鏡)은 전자 현미경의 한 종류로, 집중적인 전자 빔 … 주사전자현미경(走査電子顯微鏡)은 전자 현미경의 한 종류로, 집중적인 전자 빔으로 주사(走査)하여 표본의 상(像)을 얻는다. 약자로 줄여 SEM(Scanning Electron Microscope)이라고도 한다. 전자들은 표본의 원자들과 상호반응하여 표본의 표면 지형과 구성에 대한 정보를 담고 있으며 검출 가능한 다양한 신호들을 생성한다. 전자 빔은 일반적으로 의 양식으로 주사하며, 빔의 위치를 검출된 신호와 결합하여 상을 만들어낸다. SEM으로 1 나노미터보다 좋은 분해능을 얻을 수 있다. 표본은 고진공, 저진공, 습기 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다.진공, 습기 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다.
, Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или … Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3—10 раз (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 раз, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов. Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащённых детекторами различных типов.М, оснащённых детекторами различных типов.
, Il microscopio elettronico a scansione, comunemente indicato con l'acronimo SEM dall'inglese Scanning Electron Microscope, è un tipo di Microscopio elettronico.
, Is éard is leictreonmhicreascóp scanacháin … Is éard is leictreonmhicreascóp scanacháin (LMS) ann ná cineál ar féidir leis amharc-íomhánna a táirgeadh tré scanachán a dhéanamh ar dhromchla an tsampla le léas ardfhuinnimh leictreon i bpatrún scanta rastair. Idirghníomhaíonn na leictreoin leis na hadaimh sa tsampla agus táirgítear comharthaí a thugann faisnéis maidir le topagrafaíocht dhromchla an tsampla, comhdhéanamh agus airíonna eile ar nós ., comhdhéanamh agus airíonna eile ar nós .
, Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z a … Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z ang. scanning electron microscope) – rodzaj mikroskopu elektronowego, który wytwarza obraz próbki przez skanowanie powierzchni zogniskowaną wiązką elektronów, które oddziałują z atomami w próbce, wytwarzając różne sygnały zawierające informacje o topografii powierzchni i składzie próbki. Wiązka elektronów „oświetla” kolejne punkty próbki, a pozycja wiązki jest łączona z intensywnością wykrytego sygnału w celu wytworzenia obrazu. W najpopularniejszym trybie SEM elektrony wtórne emitowane przez atomy wzbudzone wiązką elektronów są wykrywane za pomocą detektora elektronów wtórnych (Detektor Everharta-Thornleya). Liczba elektronów wtórnych, które można wykryć, a tym samym natężenie sygnału, zależy m.in. od topografii próbki. Niektóre SEM mogą osiągnąć rozdzielczości lepsze niż 1 nanometr. Konwencjonalne skaningowe mikroskopy elektronowe wymagają wysokiej próżni, rozwój instrumentów spowodował opracowanie technik SEM w niskiej i zmiennej próżni.e technik SEM w niskiej i zmiennej próżni.
, A scanning electron microscope (SEM) is a … A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that contain information about the surface topography and composition of the sample. The electron beam is scanned in a raster scan pattern, and the position of the beam is combined with the intensity of the detected signal to produce an image. In the most common SEM mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector (Everhart–Thornley detector). The number of secondary electrons that can be detected, and thus the signal intensity, depends, among other things, on specimen topography. Some SEMs can achieve resolutions better than 1 nanometer. Specimens are observed in high vacuum in a conventional SEM, or in low vacuum or wet conditions in a variable pressure or environmental SEM, and at a wide range of cryogenic or elevated temperatures with specialized instruments.temperatures with specialized instruments.
, La microscopie électronique à balayage (ME … La microscopie électronique à balayage (MEB) ou Scanning Electron Microscopy (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. S'appuyant sur les travaux de Max Knoll et Manfred von Ardenne dans les années 1930, la MEB consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image en trois dimensions de la surface. Les travaux menés dans les années 1960 dans le laboratoire de Charles Oatley à l’université de Cambridge ont grandement contribué au développement de la MEB, et ont conduit en 1965 à la commercialisation par Cambridge Instrument Co. des premiers microscopes à balayage. Aujourd’hui, la microscopie électronique à balayage est utilisée dans des domaines allant de la biologie à la science des matériaux, et un grand nombre de constructeurs proposent des appareils de série équipés de détecteurs d’électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 0,4 nanomètre et 20 nanomètres.itue entre 0,4 nanomètre et 20 nanomètres.
, El microscopi electrònic de rastreig o MER … El microscopi electrònic de rastreig o MER (també anomenat d'escombratge o scanning i SEM de Scanning Electron Microscope en anglès) és un tipus de microscopi electrònic que proporciona una imatge de la mostra sobre la qual s'envia un feix d'electrons. Aquests interaccionen amb la superfície de la mostra, llavors es dispersen arreu, es localitzen mitjançant un detector i es projecten en una pantalla que hi ha al costat.ecten en una pantalla que hi ha al costat.
, O microscópio eletrônico de varredura (por … O microscópio eletrônico de varredura (português brasileiro) ou microscópio eletrónico de varrimento (português europeu) (MEV) é um tipo de microscópio eletrônico capaz de produzir imagens de alta resolução da superfície de uma amostra. Devido à maneira com que as imagens são criadas, imagens de MEV têm uma aparência tridimensional característica e são úteis para avaliar a estrutura superficial da amostra. Além de avaliar os aspectos topográficos, essa técnica também é útil para verificar a composição e outras características do material que compõe as amostras.sticas do material que compõe as amostras.
, Mikroskop pemindai elektron (Scanning Elec … Mikroskop pemindai elektron (Scanning Electron Microscope; SEM) adalah jenis mikroskop elektron yang mencitrakan permukaan sampel oleh pemindaian dengan pancaran tinggi elektron. Elektron yang berinteraksi dengan atom yang membentuk sampel menghasilkan sinyal yang berisi informasi tentang sampel dari permukaan topografi, komposisi dan sifat lainnya seperti daya konduksi listrik. Berdasarkan karya dan pada tahun 1930-an, SEM terdiri dari seberkas elektron yang memindai permukaan sampel yang akan dianalisis dimana, sebagai tanggapan, kembali memancarkan partikel tertentu. Partikel ini dianalisis oleh detektor yang berbeda yang memungkinkan untuk merekonstruksi gambar tiga dimensi dari permukaan. Saat ini, pemindaian mikroskop elektron digunakan di berbagai bidang mulai dari biologi hingga teknik material, dan banyak produsen menawarkan serangkaian perangkat dengan detektor elektron sekunder dan resolusi yang berkisar antara 0.4 nanometer hingga 20 nanometer. antara 0.4 nanometer hingga 20 nanometer.
, El microscopio electrónico de barrido (MEB … El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Apoyándose en los trabajos de Max Knoll de los años 1930 fue Manfred von Ardenne quien logró inventar el MEB en 1937 que consistía en un haz de electrones que barría la superficie de la muestra a analizar, que, en respuesta, reemitía algunas partículas. Estas partículas son analizadas por los diferentes sensores que hacen que sea posible la reconstrucción de una imagen tridimensional de la superficie. Los trabajos realizados en la década de 1960 en el laboratorio de , en la Universidad de Cambridge, contribuyeron en gran medida al desarrollo del MEB, y dieron lugar en 1965 a la comercialización, por parte de , de los primeros microscopios de barrido. Hoy en día, la microscopía electrónica de barrido se utiliza en campos que van desde la biología a la ciencia de los materiales, pasando por la arqueología, y muchos fabricantes ofrecen aparatos de serie equipados con detectores de electrones secundarios y cuya resolución se sitúa entre 0,4 y 20 nanómetros. Los MEB poseen una gran profundidad de campo, que permite enfocar a la vez gran parte de la muestra. También producen imágenes de alta resolución, de forma que las características más ínfimas de la muestra pueden ser examinadas con gran amplificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil, ya que la mayoría de los MEB solo requieren que estas sean conductoras. La muestra generalmente se recubre con una capa de carbono o una capa delgada de un metal, como el oro, para darle carácter conductor. Posteriormente, se barre la superficie con electrones acelerados que viajan a través del cañón. Un detector formado por lentes basadas en electroimanes, mide la cantidad e intensidad de los electrones que devuelve la muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones mediante imagen digital. tres dimensiones mediante imagen digital.
, المجهر الإلكتروني الماسح هو نوع من أنواع ا … المجهر الإلكتروني الماسح هو نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي تنتج صور عينة عن طريق مسح ذلك مع شعاع مركز من الإلكترونات. تتفاعل الإلكترونات مع الذرات في العينة، وتنتج إشارات مختلفة تحتوي على معلومات حول تضاريس السطح وتكوينه. يتم مسح شعاع الإلكترون بشكل عام باستخدام المسح النقطي ويتم الجمع بين موقع الشعاع مع الإشارة لإنتاج صورة. يمكن تحقيق فصل أفضل من 1 نانومتر. ويمكن مشاهدة العينات في فراغ عال، في فراغ منخفض، في ظروف رطبة (في المجهر الإلكتروني الماسح البيئي)، وفي مجموعة واسعة من درجات الحرارة المنخفضة جدًا أو المرتفعة. إن أسلوب المجهر الإلكتروني الماسح الأكثر شيوعًا هو الكشف عن الإلكترونات الثانوية المنبعثة من ذرات مثارة بواسطة شعاع الإلكترون. يعتمد عدد الإلكترونات الثانوية التي يمكن اكتشافها، من بين أمور أخرى، على تضاريس العينة. عن طريق مسح العينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث باستخدام كاشف خاص، يتم إنشاء صورة عرض تضاريس السطح. في الأجهزة التناظرية، يتم مسح شعاع الإلكترونات عبر العينة في المسح النقطي بواسطة لفائف المسح الضوئي. ويشبه نمط المسح النقطي الناتج عن ذلك النمط المستعمل في أنبوب أشعة الكاثود لنظام التلفزيون بحيث تقوم الإلكترونات بالتالي: 1. تجتاح السطح خطيا في الاتجاه السيني. 2. تعود إلى نقطة البداية. 3. تتجه في اتجاه محور الصادات بواسطة أداة قياسية. في اتجاه محور الصادات بواسطة أداة قياسية.
, De rasterelektronenmicroscoop (Engels: sca … De rasterelektronenmicroscoop (Engels: scanning electron microscope, SEM) is een bepaald type elektronenmicroscoop waarmee de microstructuur van materialen zichtbaar kan worden gemaakt voor het menselijk oog. Het is een belangrijk apparaat voor microscopische materiaalkarakterisering in de studie der materiaalkunde, vastestoffysica en analytische chemie.de, vastestoffysica en analytische chemie.
, Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (engli … Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch scanning electron microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt werden. Die typischerweise mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Eine rasternde Abbildung lässt sich auch in Transmission durchführen (engl. scanning transmission electron microscopy, STEM), hierfür sind entsprechend ausgerüstete Transmissionselektronenmikroskope oder dedizierte Rastertransmissionselektronenmikroskope nötig.ertransmissionselektronenmikroskope nötig.
, 走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: Scanning Electron Microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、（後方散乱電子、BSE）、、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM（走査型透過電子顕微鏡）と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。
, 扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写 … 扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写为SEM），简称扫描电镜，是一种电子显微镜，其通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。 显微镜电子束通常以图案扫描。电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1纳米。样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的二次电子（secondary electron）。可以检测的二次电子的数量，取决于样品测绘学形貌，以及取决于其他因素。通过扫描样品并使用特殊检测器收集被发射的二次电子，创建了显示表面的形貌的图像。它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。的形貌的图像。它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。
, Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkova … Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkovací elektronový mikroskop (anglicky scanning electron microscope, SEM), je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů. Slouží převážně k topografické analýze různých materiálů převážně velmi malých objektů, či objektů s detaily které běžný optický mikroskop nerozpozná. které běžný optický mikroskop nerozpozná.
|
| http://dbpedia.org/ontology/thumbnail
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Misc_pollen.jpg?width=300 +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageExternalLink
|
https://myscope.training/%23/SEMlevel_3_1 +
, https://www.youtube.com/watch%3Fv=GY9lfO-tVfE +
, http://bioree.ru/%3Flang=en +
, http://www.danilatos.com +
, http://remf.dartmouth.edu/imagesindex.html +
, http://www.danilatos.com/scancol/scancol09.html +
, http://www.danilatos.com/colorESEM/colrESEM317.html +
, https://twitter.com/sbertazz +
, http://www.ammrf.org.au/myscope/sem/practice/virtualsem/sparkler.php +
, http://www.howstuffworks.com/scanning-electron-microscope.htm +
, http://toutestquantique.fr/en/microscopy/ +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageID
|
28034
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageLength
|
64641
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageRevisionID
|
1122421013
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageWikiLink
|
http://dbpedia.org/resource/Ultraviolet +
, http://dbpedia.org/resource/Onion +
, http://dbpedia.org/resource/Microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/X-ray +
, http://dbpedia.org/resource/Photogrammetry +
, http://dbpedia.org/resource/Fatty_acid +
, http://dbpedia.org/resource/Arsenopyrite +
, http://dbpedia.org/resource/Colloidal_gold +
, http://dbpedia.org/resource/Backscatter +
, http://dbpedia.org/resource/Compound_eye +
, http://dbpedia.org/resource/Electronics +
, http://dbpedia.org/resource/Sensor +
, http://dbpedia.org/resource/Atom +
, http://dbpedia.org/resource/Nanometre +
, http://dbpedia.org/resource/Electromagnetic_radiation +
, http://dbpedia.org/resource/Order_of_magnitude +
, http://dbpedia.org/resource/Optical_resolution +
, http://dbpedia.org/resource/Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Art_forgery +
, http://dbpedia.org/resource/Raster_scan +
, http://dbpedia.org/resource/P-n_junction +
, http://dbpedia.org/resource/Triangulation_%28computer_vision%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Cathode-ray_tube +
, http://dbpedia.org/resource/Atomic_number +
, http://dbpedia.org/resource/Electrical_conductivity +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_hole +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_backscatter_diffraction +
, http://dbpedia.org/resource/MountainsMap +
, http://dbpedia.org/resource/Static_electricity +
, http://dbpedia.org/resource/Iridium +
, http://dbpedia.org/resource/Water +
, http://dbpedia.org/resource/Attenuation +
, http://dbpedia.org/resource/Cobaea_scandens +
, http://dbpedia.org/resource/Tungsten +
, http://dbpedia.org/resource/Semiconductor +
, http://dbpedia.org/resource/Transmission_electron_microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Kidney_stone +
, http://dbpedia.org/resource/Diffraction_limit +
, http://dbpedia.org/resource/Charge-coupled_device +
, http://dbpedia.org/resource/Ion_beam +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_gun +
, http://dbpedia.org/resource/Microfossils +
, http://dbpedia.org/resource/Weddellite +
, http://dbpedia.org/resource/Snow +
, http://dbpedia.org/resource/Focused_ion_beam +
, http://dbpedia.org/resource/Palladium +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Scanning_probe_microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Humidity +
, http://dbpedia.org/resource/White_blood_cell +
, http://dbpedia.org/resource/Inelastic_mean_free_path +
, http://dbpedia.org/resource/Platinum +
, http://dbpedia.org/resource/Manfred_von_Ardenne +
, http://dbpedia.org/resource/Nanometer +
, http://dbpedia.org/resource/Secondary_electrons +
, http://dbpedia.org/resource/Elastic_scattering +
, http://dbpedia.org/resource/Transmission_electron_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Acetone +
, http://dbpedia.org/resource/Torr +
, http://dbpedia.org/resource/Photographic_film +
, http://dbpedia.org/resource/Forensic_science +
, http://dbpedia.org/resource/Thiocarbohydrazide +
, http://dbpedia.org/resource/Pixel +
, http://dbpedia.org/resource/Art_conservation +
, http://dbpedia.org/resource/Digital_images +
, http://dbpedia.org/resource/Resin +
, http://dbpedia.org/resource/Zinc +
, http://dbpedia.org/resource/Fixation_%28histology%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Annular_dark-field_imaging +
, http://dbpedia.org/resource/Field_emission_gun +
, http://dbpedia.org/resource/Optimal_estimation +
, http://dbpedia.org/resource/Staining +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Electron_microscopy_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Devonian +
, http://dbpedia.org/resource/Inelastic_scattering +
, http://dbpedia.org/resource/List_of_surface_analysis_methods +
, http://dbpedia.org/resource/Critical_point_drying +
, http://dbpedia.org/resource/Stoma +
, http://dbpedia.org/resource/Scanning_coils +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_beam_induced_current +
, http://dbpedia.org/resource/File:LT-SEM_snow_crystal_magnification_series-3.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Sputter_coating +
, http://dbpedia.org/resource/Vacuum +
, http://dbpedia.org/resource/File:SEM_SE_vs_BE_Zr_Al.png +
, http://dbpedia.org/resource/Walter_H._Schottky +
, http://dbpedia.org/resource/Liquid-Phase_Electron_Microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/File:Gold_Spider_SEM_sample.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Pos.tif +
, http://dbpedia.org/resource/File:Electron_emission_mechanisms.svg +
, http://dbpedia.org/resource/File:First_Scanning_Electron_Microscope_with_high_resolution_from_Manfred_von_Ardenne_1937.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Thermionically +
, http://dbpedia.org/resource/File:Electron-matter_interaction_volume_and_various_types_of_signal_generated_-_v2.svg +
, http://dbpedia.org/resource/Cathode +
, http://dbpedia.org/resource/Cold-cathode +
, http://dbpedia.org/resource/Shape_from_shading +
, http://dbpedia.org/resource/File:SEM_chamber1.JPG +
, http://dbpedia.org/resource/File:InGaN_crystal_SEM%2BCL.png +
, http://dbpedia.org/resource/X-ray_analysis +
, http://dbpedia.org/resource/File:Schottky-Emitter_01.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Scanning_Electron_Microscope.ogg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Schema_MEB_%28en%29.svg +
, http://dbpedia.org/resource/File:SEM_Zoom.ogv +
, http://dbpedia.org/resource/File:ScanningMicroscopeJLM.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Microtome +
, http://dbpedia.org/resource/Light_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Electron +
, http://dbpedia.org/resource/Ethanol +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Direct_bandgap +
, http://dbpedia.org/resource/Photoresist +
, http://dbpedia.org/resource/Image_resolution +
, http://dbpedia.org/resource/Ion +
, http://dbpedia.org/resource/Electronvolt +
, http://dbpedia.org/resource/Gold +
, http://dbpedia.org/resource/Max_Knoll +
, http://dbpedia.org/resource/Graphite +
, http://dbpedia.org/resource/Spectrum +
, http://dbpedia.org/resource/Condenser_%28microscope%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Fractography +
, http://dbpedia.org/resource/Zirconium_oxide +
, http://dbpedia.org/resource/Adhesive +
, http://dbpedia.org/resource/Antimony +
, http://dbpedia.org/resource/Formaldehyde +
, http://dbpedia.org/resource/Tradescantia +
, http://dbpedia.org/resource/Cryofixation +
, http://dbpedia.org/resource/Photomultiplier +
, http://dbpedia.org/resource/Color_look-up_table +
, http://dbpedia.org/resource/Wavelength_dispersive_X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Forensic_analysis +
, http://dbpedia.org/resource/Carbon_dioxide +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_shell +
, http://dbpedia.org/resource/Characteristic_X-ray +
, http://dbpedia.org/resource/Osmium_tetroxide +
, http://dbpedia.org/resource/Fluorescence +
, http://dbpedia.org/resource/Cathodoluminescence +
, http://dbpedia.org/resource/Charge_carrier +
, http://dbpedia.org/resource/Lanthanum_hexaboride +
, http://dbpedia.org/resource/Plastics +
, http://dbpedia.org/resource/Cathodoluminescence_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Everhart%E2%80%93Thornley_detector +
, http://dbpedia.org/resource/Electrons +
, http://dbpedia.org/resource/Energy +
, http://dbpedia.org/resource/Immunogold_labelling +
, http://dbpedia.org/resource/Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Scanning_transmission_electron_microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Scintillator +
, http://dbpedia.org/resource/Surface_roughness +
, http://dbpedia.org/resource/Topography +
, http://dbpedia.org/resource/Signal_%28electrical_engineering%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Chromium +
, http://dbpedia.org/resource/Analog-to-digital_converter +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Scientific_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Valence_band +
, http://dbpedia.org/resource/Wafer_%28electronics%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Category:German_inventions_of_the_Nazi_period +
, http://dbpedia.org/resource/Objective_%28optics%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Energy_level +
, http://dbpedia.org/resource/Conduction_band +
, http://dbpedia.org/resource/Digital_image +
, http://dbpedia.org/resource/Chromatic_aberration +
, http://dbpedia.org/resource/Ostracoda +
, http://dbpedia.org/resource/Teeny_Ted_from_Turnip_Town +
, http://dbpedia.org/resource/Cambridge_Scientific_Instrument_Company +
, http://dbpedia.org/resource/Camera +
, http://dbpedia.org/resource/Ommatidia +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Articles_containing_video_clips +
, http://dbpedia.org/resource/Video +
, http://dbpedia.org/resource/Alloy +
, http://dbpedia.org/resource/Gallium +
, http://dbpedia.org/resource/DuPont +
, http://dbpedia.org/resource/Vladimir_K._Zworykin +
, http://dbpedia.org/resource/Vapour_pressure +
, http://dbpedia.org/resource/Antarctic_krill +
, http://dbpedia.org/resource/Phase_transition +
, http://dbpedia.org/resource/Depth_of_field +
, http://dbpedia.org/resource/Elastomers +
, http://dbpedia.org/resource/Luminescence +
, http://dbpedia.org/resource/False_color +
, http://dbpedia.org/resource/Buffer_solution +
, http://dbpedia.org/resource/Hederellid +
, http://dbpedia.org/resource/File:Misc_pollen.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Forensic_engineering +
, http://dbpedia.org/resource/Depth_hoar +
, http://dbpedia.org/resource/Osmium +
, http://dbpedia.org/resource/Glutaraldehyde +
, http://dbpedia.org/resource/Ground_%28electricity%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Soybean_cyst_nematode +
, http://dbpedia.org/resource/Scanning_probe_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Field_electron_emission +
, http://dbpedia.org/resource/Charles_Oatley +
|
| http://dbpedia.org/property/by
|
no
|
| http://dbpedia.org/property/label
|
Scanning electron microscopy
|
| http://dbpedia.org/property/lcheading
|
Scanning electron microscopy
|
| http://dbpedia.org/property/onlinebooks
|
no
|
| http://dbpedia.org/property/wikiPageUsesTemplate
|
http://dbpedia.org/resource/Template:Commons_category +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Wikibooks +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Chem +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Snd +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Use_dmy_dates +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Main +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Clarify +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Reflist +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Distinguish +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Citation_needed +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Library_resources_box +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Unreferenced_section +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Cmn +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Short_description +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Authority_control +
|
| http://purl.org/dc/terms/subject
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Scientific_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Category:German_inventions_of_the_Nazi_period +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Articles_containing_video_clips +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Electron_microscopy_techniques +
|
| http://purl.org/linguistics/gold/hypernym
|
http://dbpedia.org/resource/Microscope +
|
| http://www.w3.org/2004/02/skos/core#closeMatch
|
http://www.springernature.com/scigraph/things/subjects/scanning-electron-microscopy +
|
| http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope?oldid=1122421013&ns=0 +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/depiction
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/LT-SEM_snow_crystal_magnification_series-3.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/LightLTSEM.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/BSEGlassInclusionSb.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Discoaster-side-diag-alt_Re-colorized_SEM_Image.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Discoaster-side-diag-alt_hg.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Schottky-Emitter_01.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/FLY_EYE.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Schema_MEB_%28en%29.svg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Cobaea_scandens1-4.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Cobaea_scandens_colorized_SEM_image.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/ScanningMicroscopeJLM.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Tradescantia_tolmukakarvad_ja_%C3%B5ietolm.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Soybean_cyst_nematode_and_egg_SEM.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_BW_-_1.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_BW_-_2.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_orange.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/HederelloidSEM.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/InGaN_crystal_SEM%2BCL.png +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/SEM_Stereo_pair_of_micro-fossil_%28Juxilyocypris_schwarzbachi_Ostracoda%29.gif +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/SEM_blood_cells.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/SEM_chamber1.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Krilleyekils.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Fly_eye_detail.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Antarctic_krill_ommatidia.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Fly_Eye_3D_SEM_Image_with_form.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Fly_Eye_3D_SEM_Image_without_form.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Misc_pollen.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Electron-matter_interaction_volume_and_various_types_of_signal_generated_-_v2.svg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Electron_emission_mechanisms.svg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Surface_of_a_kidney_stone.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Surface_of_a_kidney_stone_Re-colorized_SEM_Image.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/SEGlassCorrosion.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/SEM_SE_vs_BE_Zr_Al.png +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Gold_Spider_SEM_sample.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/SEM_Stereo_Pair.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Gold_on_arsenopyrite_SEM_image.png +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Photoresist_SEM_micrograph.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/3D_surface_reconstruction_from_2_scanning_electron_microscope_images.gif +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Onion_flake._Cells._SEM-BSE.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/First_Scanning_Electron_Microscope_with_high_resolution_from_Manfred_von_Ardenne_1937.jpg +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/isPrimaryTopicOf
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope +
|
| owl:differentFrom |
http://dbpedia.org/resource/Scanning_tunneling_microscope +
|
| owl:sameAs |
http://vi.dbpedia.org/resource/K%C3%ADnh_hi%E1%BB%83n_vi_%C4%91i%E1%BB%87n_t%E1%BB%AD_qu%C3%A9t +
, http://et.dbpedia.org/resource/Skaneeriv_elektronmikroskoop +
, http://ja.dbpedia.org/resource/%E8%B5%B0%E6%9F%BB%E5%9E%8B%E9%9B%BB%E5%AD%90%E9%A1%95%E5%BE%AE%E9%8F%A1 +
, http://ta.dbpedia.org/resource/%E0%AE%85%E0%AE%B2%E0%AE%95%E0%AE%BF%E0%AE%9F%E0%AF%81_%E0%AE%8E%E0%AE%A4%E0%AE%BF%E0%AE%B0%E0%AF%8D%E0%AE%AE%E0%AE%BF%E0%AE%A9%E0%AF%8D%E0%AE%A9%E0%AE%BF_%E0%AE%A8%E0%AF%81%E0%AE%A3%E0%AF%8D%E0%AE%A3%E0%AF%8B%E0%AE%95%E0%AF%8D%E0%AE%95%E0%AE%BF +
, http://www.wikidata.org/entity/Q321095 +
, http://ko.dbpedia.org/resource/%EC%A3%BC%EC%82%AC%EC%A0%84%EC%9E%90%ED%98%84%EB%AF%B8%EA%B2%BD +
, https://global.dbpedia.org/id/2xqLa +
, http://pt.dbpedia.org/resource/Microsc%C3%B3pio_eletr%C3%B4nico_de_varredura +
, http://es.dbpedia.org/resource/Microscopio_electr%C3%B3nico_de_barrido +
, http://tr.dbpedia.org/resource/Taramal%C4%B1_elektron_mikroskobu +
, http://id.dbpedia.org/resource/Mikroskop_pemindai_elektron +
, http://nl.dbpedia.org/resource/Rasterelektronenmicroscoop +
, http://cs.dbpedia.org/resource/Rastrovac%C3%AD_elektronov%C3%BD_mikroskop +
, http://ru.dbpedia.org/resource/%D0%A0%D0%B0%D1%81%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%B2%D1%8B%D0%B9_%D1%8D%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D1%8B%D0%B9_%D0%BC%D0%B8%D0%BA%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%BA%D0%BE%D0%BF +
, http://dbpedia.org/resource/Scanning_electron_microscope +
, http://fa.dbpedia.org/resource/%D9%85%DB%8C%DA%A9%D8%B1%D9%88%D8%B3%DA%A9%D9%88%D9%BE_%D8%A7%D9%84%DA%A9%D8%AA%D8%B1%D9%88%D9%86%DB%8C_%D8%B1%D9%88%D8%A8%D8%B4%DB%8C +
, http://ka.dbpedia.org/resource/%E1%83%9B%E1%83%90%E1%83%A1%E1%83%99%E1%83%90%E1%83%9C%E1%83%98%E1%83%A0%E1%83%94%E1%83%91%E1%83%94%E1%83%9A%E1%83%98_%E1%83%94%E1%83%9A%E1%83%94%E1%83%A5%E1%83%A2%E1%83%A0%E1%83%9D%E1%83%9C%E1%83%A3%E1%83%9A%E1%83%98_%E1%83%9B%E1%83%98%E1%83%99%E1%83%A0%E1%83%9D%E1%83%A1%E1%83%99%E1%83%9D%E1%83%9E%E1%83%98 +
, http://ca.dbpedia.org/resource/Microscopi_electr%C3%B2nic_de_rastreig +
, http://th.dbpedia.org/resource/%E0%B8%81%E0%B8%A5%E0%B9%89%E0%B8%AD%E0%B8%87%E0%B8%88%E0%B8%B8%E0%B8%A5%E0%B8%97%E0%B8%A3%E0%B8%A3%E0%B8%A8%E0%B8%99%E0%B9%8C%E0%B8%AD%E0%B8%B4%E0%B9%80%E0%B8%A5%E0%B9%87%E0%B8%81%E0%B8%95%E0%B8%A3%E0%B8%AD%E0%B8%99%E0%B8%8A%E0%B8%99%E0%B8%B4%E0%B8%94%E0%B8%AA%E0%B9%88%E0%B8%AD%E0%B8%87%E0%B8%81%E0%B8%A3%E0%B8%B2%E0%B8%94 +
, http://rdf.freebase.com/ns/m.06zhw +
, http://hu.dbpedia.org/resource/P%C3%A1szt%C3%A1z%C3%B3_elektronmikroszk%C3%B3p +
, http://is.dbpedia.org/resource/Rafeindasm%C3%A1sj%C3%A1 +
, http://ar.dbpedia.org/resource/%D9%85%D8%AC%D9%87%D8%B1_%D8%A5%D9%84%D9%83%D8%AA%D8%B1%D9%88%D9%86%D9%8A_%D9%85%D8%A7%D8%B3%D8%AD +
, http://bg.dbpedia.org/resource/%D0%A1%D0%BA%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D1%80%D0%B0%D1%89_%D0%B5%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%B5%D0%BD_%D0%BC%D0%B8%D0%BA%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%BA%D0%BE%D0%BF +
, http://simple.dbpedia.org/resource/Scanning_electron_microscope +
, http://el.dbpedia.org/resource/%CE%97%CE%BB%CE%B5%CE%BA%CF%84%CF%81%CE%BF%CE%BD%CE%B9%CE%BA%CF%8C_%CE%BC%CE%B9%CE%BA%CF%81%CE%BF%CF%83%CE%BA%CF%8C%CF%80%CE%B9%CE%BF_%CF%83%CE%AC%CF%81%CF%89%CF%83%CE%B7%CF%82 +
, http://bn.dbpedia.org/resource/%E0%A6%95%E0%A7%8D%E0%A6%B0%E0%A6%AE%E0%A6%AC%E0%A7%87%E0%A6%95%E0%A7%8D%E0%A6%B7%E0%A6%95_%E0%A6%87%E0%A6%B2%E0%A7%87%E0%A6%95%E0%A6%9F%E0%A7%8D%E0%A6%B0%E0%A6%A8_%E0%A6%85%E0%A6%A3%E0%A7%81%E0%A6%AC%E0%A7%80%E0%A6%95%E0%A7%8D%E0%A6%B7%E0%A6%A3_%E0%A6%AF%E0%A6%A8%E0%A7%8D%E0%A6%A4%E0%A7%8D%E0%A6%B0 +
, http://zh.dbpedia.org/resource/%E6%89%AB%E6%8F%8F%E7%94%B5%E5%AD%90%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C +
, http://lb.dbpedia.org/resource/Rasterelektronemikroskop +
, http://uk.dbpedia.org/resource/%D0%A1%D0%BA%D0%B0%D0%BD%D1%83%D0%B2%D0%B0%D0%BB%D1%8C%D0%BD%D0%B8%D0%B9_%D0%B5%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D0%B8%D0%B9_%D0%BC%D1%96%D0%BA%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%BA%D0%BE%D0%BF +
, http://fr.dbpedia.org/resource/Microscopie_%C3%A9lectronique_%C3%A0_balayage +
, http://ckb.dbpedia.org/resource/%D9%85%D8%A7%DB%8C%DA%A9%DA%95%DB%86%D8%B3%DA%A9%DB%86%D9%BE%DB%8C_%D8%A6%DB%95%D9%84%DB%8E%DA%A9%D8%AA%DA%95%DB%86%D9%86%DB%8C_%D8%B3%DA%A9%D8%A7%D9%86%DB%95%D8%B1 +
, http://it.dbpedia.org/resource/Microscopio_elettronico_a_scansione +
, http://sl.dbpedia.org/resource/Vrsti%C4%8Dni_elektronski_mikroskop +
, http://ro.dbpedia.org/resource/Microscop_electronic_de_scanare +
, http://de.dbpedia.org/resource/Rasterelektronenmikroskop +
, http://ga.dbpedia.org/resource/Leictreonmhicreasc%C3%B3p_scanach%C3%A1in +
, http://pl.dbpedia.org/resource/Skaningowy_mikroskop_elektronowy +
, http://ms.dbpedia.org/resource/Mikroskop_elektron_pengimbas +
, http://yago-knowledge.org/resource/Scanning_electron_microscope +
, http://sv.dbpedia.org/resource/Svepelektronmikroskop +
|
| rdf:type |
http://dbpedia.org/class/yago/WikicatMicroscopes +
, http://dbpedia.org/class/yago/Microscope103760671 +
, http://dbpedia.org/class/yago/ScientificInstrument104147495 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Instrument103574816 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Magnifier103709206 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Object100002684 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Whole100003553 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Device103183080 +
, http://dbpedia.org/class/yago/PhysicalEntity100001930 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Artifact100021939 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Instrumentality103575240 +
|
| rdfs:comment |
Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z a … Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z ang. scanning electron microscope) – rodzaj mikroskopu elektronowego, który wytwarza obraz próbki przez skanowanie powierzchni zogniskowaną wiązką elektronów, które oddziałują z atomami w próbce, wytwarzając różne sygnały zawierające informacje o topografii powierzchni i składzie próbki. Wiązka elektronów „oświetla” kolejne punkty próbki, a pozycja wiązki jest łączona z intensywnością wykrytego sygnału w celu wytworzenia obrazu. W najpopularniejszym trybie SEM elektrony wtórne emitowane przez atomy wzbudzone wiązką elektronów są wykrywane za pomocą detektora elektronów wtórnych (Detektor Everharta-Thornleya). Liczba elektronów wtórnych, które można wykryć, a tym samym natężenie sygnału, zależy m.in. od topografii próbki. Niektóre SEM mogą osiągnąć rrafii próbki. Niektóre SEM mogą osiągnąć r
, Il microscopio elettronico a scansione, comunemente indicato con l'acronimo SEM dall'inglese Scanning Electron Microscope, è un tipo di Microscopio elettronico.
, 扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写 … 扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写为SEM），简称扫描电镜，是一种电子显微镜，其通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。 显微镜电子束通常以图案扫描。电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1纳米。样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的二次电子（secondary electron）。可以检测的二次电子的数量，取决于样品测绘学形貌，以及取决于其他因素。通过扫描样品并使用特殊检测器收集被发射的二次电子，创建了显示表面的形貌的图像。它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。的形貌的图像。它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。
, Is éard is leictreonmhicreascóp scanacháin … Is éard is leictreonmhicreascóp scanacháin (LMS) ann ná cineál ar féidir leis amharc-íomhánna a táirgeadh tré scanachán a dhéanamh ar dhromchla an tsampla le léas ardfhuinnimh leictreon i bpatrún scanta rastair. Idirghníomhaíonn na leictreoin leis na hadaimh sa tsampla agus táirgítear comharthaí a thugann faisnéis maidir le topagrafaíocht dhromchla an tsampla, comhdhéanamh agus airíonna eile ar nós ., comhdhéanamh agus airíonna eile ar nós .
, 走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: Scanning Electron Microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、（後方散乱電子、BSE）、、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM（走査型透過電子顕微鏡）と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。
, O microscópio eletrônico de varredura (por … O microscópio eletrônico de varredura (português brasileiro) ou microscópio eletrónico de varrimento (português europeu) (MEV) é um tipo de microscópio eletrônico capaz de produzir imagens de alta resolução da superfície de uma amostra. Devido à maneira com que as imagens são criadas, imagens de MEV têm uma aparência tridimensional característica e são úteis para avaliar a estrutura superficial da amostra. Além de avaliar os aspectos topográficos, essa técnica também é útil para verificar a composição e outras características do material que compõe as amostras.sticas do material que compõe as amostras.
, Svepelektronmikroskop, Scanning electron m … Svepelektronmikroskop, Scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster. Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets , sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga.
* Dessa pollenkorn är tagna med hjälp av en SEM och visar karaktär på skärpedjup på SEM mikroskopfotografering.
* SEM öppnad provbehållare.
* Analog typ av scanning med elektronmikroskop.log typ av scanning med elektronmikroskop.
, 주사전자현미경(走査電子顯微鏡)은 전자 현미경의 한 종류로, 집중적인 전자 빔 … 주사전자현미경(走査電子顯微鏡)은 전자 현미경의 한 종류로, 집중적인 전자 빔으로 주사(走査)하여 표본의 상(像)을 얻는다. 약자로 줄여 SEM(Scanning Electron Microscope)이라고도 한다. 전자들은 표본의 원자들과 상호반응하여 표본의 표면 지형과 구성에 대한 정보를 담고 있으며 검출 가능한 다양한 신호들을 생성한다. 전자 빔은 일반적으로 의 양식으로 주사하며, 빔의 위치를 검출된 신호와 결합하여 상을 만들어낸다. SEM으로 1 나노미터보다 좋은 분해능을 얻을 수 있다. 표본은 고진공, 저진공, 습기 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다.진공, 습기 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다.
, El microscopio electrónico de barrido (MEB … El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. de un haz de luz para formar una imagen.
, Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) ε … Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) είναι ένα από τα όργανα της ηλεκτρονικής μικροσκοπίας, με το οποίο μπορούμε να εξετάζουμε την επιφάνεια αντικειμένων με την χρήση ηλεκτρονικής δέσμης. Σε αντιστοιχία με τα μικροσκόπια που χρησιμοποιούν φως και κοινούς φακούς για την δημιουργία ειδώλου ενός αντικειμένου, στο ΗΜΣ χρησιμοποιούνται ηλεκτρόνια και ηλεκτρομαγνητικοί φακοί για την δημιουργία ειδώλου της επιφανείας ενός αντικειμένου στην οθόνη ηλεκτρονικού υπολογιστή ή μιας τηλεόρασης. Για τη λειτουργία αυτού του οργάνου είναι απαραίτητη συνθήκη να δημιουργείται ικανοποιητικό "κενό" με διαρκή άντληση του αέρα μετά την εισαγωγή του προς εξέταση αντικειμένου (δείγματος) στο μικροσκόπιο. αντικειμένου (δείγματος) στο μικροσκόπιο.
, La microscopie électronique à balayage (ME … La microscopie électronique à balayage (MEB) ou Scanning Electron Microscopy (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.incipe des interactions électrons-matière.
, المجهر الإلكتروني الماسح هو نوع من أنواع ا … المجهر الإلكتروني الماسح هو نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي تنتج صور عينة عن طريق مسح ذلك مع شعاع مركز من الإلكترونات. تتفاعل الإلكترونات مع الذرات في العينة، وتنتج إشارات مختلفة تحتوي على معلومات حول تضاريس السطح وتكوينه. يتم مسح شعاع الإلكترون بشكل عام باستخدام المسح النقطي ويتم الجمع بين موقع الشعاع مع الإشارة لإنتاج صورة. يمكن تحقيق فصل أفضل من 1 نانومتر. ويمكن مشاهدة العينات في فراغ عال، في فراغ منخفض، في ظروف رطبة (في المجهر الإلكتروني الماسح البيئي)، وفي مجموعة واسعة من درجات الحرارة المنخفضة جدًا أو المرتفعة. إن أسلوب المجهر الإلكتروني الماسح الأكثر شيوعًا هو الكشف عن الإلكترونات الثانوية المنبعثة من ذرات مثارة بواسطة شعاع الإلكترون. يعتمد عدد الإلكترونات الثانوية التي يمكن اكتشافها، من بين أمور أخرى، على تضاريس العينة. عن طريق مسح العينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث عينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث
, De rasterelektronenmicroscoop (Engels: sca … De rasterelektronenmicroscoop (Engels: scanning electron microscope, SEM) is een bepaald type elektronenmicroscoop waarmee de microstructuur van materialen zichtbaar kan worden gemaakt voor het menselijk oog. Het is een belangrijk apparaat voor microscopische materiaalkarakterisering in de studie der materiaalkunde, vastestoffysica en analytische chemie.de, vastestoffysica en analytische chemie.
, A scanning electron microscope (SEM) is a … A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that contain information about the surface topography and composition of the sample. The electron beam is scanned in a raster scan pattern, and the position of the beam is combined with the intensity of the detected signal to produce an image. In the most common SEM mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector (Everhart–Thornley detector). The number of secondary electrons that can be detected, and thus the signal intensity, depends, among other things, on specimen topography. Some Sher things, on specimen topography. Some S
, Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (engli … Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch scanning electron microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt werden. Die typischerweise mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Eine rasternde Abbildung lässt sich auch in Transmission durchführen (engl. scanning transmission electron microscopy, STEM), hierfür sind entsprechend ausgerüstete Transmissionselektronenmikroskope oder dedizierte Rastertransmissionselektronenmikroskope nötig.ertransmissionselektronenmikroskope nötig.
, Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или … Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом.электронного пучка с исследуемым объектом.
, Сканувальний електронний мікроскоп (англ. … Сканувальний електронний мікроскоп (англ. Scanning Electron Microscope, SEM) — науковий прилад, що дозволяє одержувати зображення поверхні зразка з великою роздільною здатністю (менше мікрометра). Зображення, одержані за допомогою растрового електронного мікроскопа, є тривимірними і зручними для вивчення структури сканованої поверхні. Ряд додаткових методів (EDX, WDX- методи), дозволяє отримувати інформацію про хімічний склад приповерхневих шарів.ю про хімічний склад приповерхневих шарів.
, Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkova … Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkovací elektronový mikroskop (anglicky scanning electron microscope, SEM), je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů. Slouží převážně k topografické analýze různých materiálů převážně velmi malých objektů, či objektů s detaily které běžný optický mikroskop nerozpozná. které běžný optický mikroskop nerozpozná.
, Mikroskop pemindai elektron (Scanning Elec … Mikroskop pemindai elektron (Scanning Electron Microscope; SEM) adalah jenis mikroskop elektron yang mencitrakan permukaan sampel oleh pemindaian dengan pancaran tinggi elektron. Elektron yang berinteraksi dengan atom yang membentuk sampel menghasilkan sinyal yang berisi informasi tentang sampel dari permukaan topografi, komposisi dan sifat lainnya seperti daya konduksi listrik.fat lainnya seperti daya konduksi listrik.
, El microscopi electrònic de rastreig o MER … El microscopi electrònic de rastreig o MER (també anomenat d'escombratge o scanning i SEM de Scanning Electron Microscope en anglès) és un tipus de microscopi electrònic que proporciona una imatge de la mostra sobre la qual s'envia un feix d'electrons. Aquests interaccionen amb la superfície de la mostra, llavors es dispersen arreu, es localitzen mitjançant un detector i es projecten en una pantalla que hi ha al costat.ecten en una pantalla que hi ha al costat.
|
| rdfs:label |
Сканувальний електронний мікроскоп
, 扫描电子显微镜
, Leictreonmhicreascóp scanacháin
, 走査型電子顕微鏡
, Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης
, Rastrovací elektronový mikroskop
, Rasterelektronenmikroskop
, Microscopio electrónico de barrido
, Mikroskop pemindai elektron
, Растровый электронный микроскоп
, 주사전자현미경
, مجهر إلكتروني ماسح
, Microscópio eletrônico de varredura
, Microscopi electrònic de rastreig
, Scanning electron microscope
, Microscopie électronique à balayage
, Skaningowy mikroskop elektronowy
, Svepelektronmikroskop
, Rasterelektronenmicroscoop
, Microscopio elettronico a scansione
|
