| http://dbpedia.org/ontology/abstract
|
電子線マイクロアナライザ（でんしせんマイクロアナライザ、英: Electron Pr … 電子線マイクロアナライザ（でんしせんマイクロアナライザ、英: Electron Probe Micro Analyzer）または電子プローブ微小分析器、略称 EPMAとは電子線を対象物に照射する事により発生する特性X線の波長と強度から構成元素を分析する電子マイクロプローブ（EMP）装置の一つである。二次電子像や反射電子像による観察が主体の電子顕微鏡に特性X線検出器としてエネルギー分散型X線分析(EDS)を付加したもの（分析用のSEMやTEM、など）と比較して、EPMAは元素分析を主体としたものであり、特性X線検出器に波長分散型X線分析(WDS)を用いるために定量精度は良いが検出効率が悪く、より高い照射電流を必要とする。 10~30立方マイクロメータの試料があればホウ素からプルトニウムまで100(ppm)を下限とする検出感度で定量的に分析出来る。ホウ素からプルトニウムまで100(ppm)を下限とする検出感度で定量的に分析出来る。
, Рентгеноспектральный микроанализ (микрорен … Рентгеноспектральный микроанализ (микрорентгеноспектральный анализ, электронно-зондовый рентгеноспектральный анализ, электронно-зондовый микроанализ) — методика, позволяющая с помощью электронного микроскопа или специального электронно-зондового микроанализатора ("микрозонд") получить информацию о химическом составе образца в произвольно выбранном участке микроскопических размеров. Суть методики заключается в том, что исследуемый образец помещается в вакуумную камеру растрового или просвечивающего электронного микроскопа и облучается сфокусированным направленным пучком электронов высокой энергии. Пучок электронов (электронный зонд) взаимодействует с приповерхностным участком образца глубиной обычно менее нескольких микрон. Объем зоны взаимодействия зависит как от ускоряющего напряжения, так и от плотности материала образца и для массивной мишени находится в диапазоне от первых десятых долей до десяти кубических микрон. Генерация рентгеновского излучения является результатом неупругого взаимодействия между электронами и образцом. Рентгеновское излучение появляется в результате двух главных процессов: эмиссии характеристического излучения и эмиссии фонового, или тормозного излучения (нем. –bremsstrahlung). Когда электрон высокой энергии взаимодействует с атомом, он может выбить один из электронов внутренней электронной оболочки. В результате атом перейдет в ионизированное, или возбужденное состояние, с вакансией в оболочке. Переход в нормальное состояние происходит, когда один из электронов внешней оболочки заполняет данную вакансию, что сопровождается изменением его энергии, а величина изменения определяется уникальной для каждого химического элемента электронной структурой атома. Эта т.н. «характеристическая» энергия может высвободиться из атома двумя способами. Один из них – эмиссия рентгеновского фотона с характеристической энергией, специфической для каждого перехода и, соответственно, для определенного элемента. Второй способ – высвобождение т.н. электронов Оже. Эмиссия фотонов рентгеновского излучения фона — тормозного излучения – проявляется, когда электрон падающего пучка испытывает торможение в электрическом поле атома. Электроны, взаимодействуя с отдельными атомами мишени, теряют разное количество энергии. Энергия таких фотонов имеет непрерывное распределение от нуля до величины ускоряющего напряжения электронного зонда, т.е. испускаемый при этом спектр имеет непрерывный характер. Максимальная энергия фотонов тормозного излучения соответствует энергии электронов пучка, полностью потерявших энергию в результате взаимодействия с полем атома. Значение этой энергии называется «пределом Дуана-Ханта». Если образец не имеет поверхностного заряда, предел Дуана-Ханта равен энергии падающего пучка. Рентгеновские фотоны обладают свойствами как частиц, так и волн, и их свойства можно охарактеризовать в терминах энергий или волн. Для рентгеноспектрального анализа можно использовать энергодисперсионный спектрометр (ЭДС), который сортирует фотоны по их энергии, либо волнодисперсионный спектрометр (ВДС), использующий принцип разделения рентгеновского излучения по длинам волн. Почти любой современный электронный микроскоп может быть оснащен рентгеновским спектрометром как дополнительной приставкой. Чаще всего растровые (РЭМ) и просвечивающие (ПЭМ) электронные микроскопы оснащаются энергодисперсионными спектрометрами, но некоторые РЭМ допускают установку одновременно двух типов спектрометров — ЭДС и ВДС. Кроме того, серийно производятся растровые электронные микроскопы, специально сконструированные для проведения рентгеноспектрального микроанализа — электронно-зондовые микроанализаторы. Электронно-оптическая колонна таких приборов позволяет получать стабильный во времени пучок электронов с энергией до 50кэВ при токах зонда до нескольких микроампер. Они, как правило, оснащены несколькими ВДС — до 5—6, а также одним ЭДС. Количественный рентгеноспектральный микроанализ Количественный рентгеноспектральный микроанализ — это относительный метод, основанный на сравнении измеренной интенсивности рентгеновских линий, генерируемых в образце с интенсивностями соответствующих линий в надлежащем стандартном образце известного состава, при известных токах зонда и идентичных прочих аналитических условиях (одинаковое ускоряющее напряжение, одинаковая геометрия установки образца и стандарта, одинаковое состояние поверхности и др.). Содержание элемента рассчитывается из отношения интенсивностей на образце и стандарте с известной концентрацией определяемого элемента в последнем. Для учёта различий в составах образца и стандарта вводится поправка на матричные эффекты. Методами рентгеноспектрального анализа можно определять концентрацию практически любых элементов от бериллия или бора до калифорния в диапазоне концентраций до сотых (ВДС) и десятых (ЭДС) долей атомных процентов.) и десятых (ЭДС) долей атомных процентов.
, Una microsonda elettronica, in inglese con … Una microsonda elettronica, in inglese conosciuta come electron microprobe (EMP) o electron probe microanalyzer (EPMA) o ancora electron micro probe analyzer (EMPA) è uno strumento utilizzato per stabilire la composizione chimica di una piccola quantità di una sostanza solida in maniera non distruttiva. Il suo funzionamento è analogo a quello di un microscopio elettronico a scansione: il campione è bombardato con un fascio di elettroni e questo emette raggi X ad una lunghezza d'onda caratteristica dell'elemento analizzato. Questo permette di determinare l'abbondanza degli elementi presenti in un campione di piccole dimensioni (solitamente 10-30 micrometri cubici). La microsonda elettronica permette di misurare la concentrazione degli elementi compresi fra il boro e il plutonio fino a livelli di 100 parti per milione (ppm). Ulteriori sviluppi della tecnologia (per esempio il Cameca SX100 dotato di cinque grandi cristalli PET per l'analisi di elementi in traccia) permettono di misurare concentrazioni a partire da circa 10 ppm. concentrazioni a partire da circa 10 ppm.
, Die Elektronenstrahlmikroanalyse (ESMA; engl. electron probe micro analysis, EPMA, oder X-ray microanalysis) dient primär der zerstörungsfreien Analyse von Festkörperoberflächen mit lateraler Auflösung bis zu 1 µm.
, 电子微探针（英語：Electron microprobe，縮寫 EMP），也被称为电 … 电子微探针（英語：Electron microprobe，縮寫 EMP），也被称为电子探针显微分析（electron probe microanalyzer，EPMA）或电子微探针分析仪（electron micro probe analyzer，EMPA），是一種用於非破性檢定少量固體材料化學成分的分析工具。它是用聚焦很细、直径小于1um的电子束轰击待分析试样上的微小区域，对激发出的特征X射线、二次电子、二次离子、背散射电子、俄歇电子、透射电子、吸收电子、阴极荧光等进行探测和信息处理的现代仪器分析方法，是电子光学技术与X射线光谱分析技术交汇的产物。进行探测和信息处理的现代仪器分析方法，是电子光学技术与X射线光谱分析技术交汇的产物。
, La microsonda d'electrons, microsonda elec … La microsonda d'electrons, microsonda electrònica o microsonda de Castaing (en anglès: electron probe microanalyser, EPMA) és una microsonda utilitzada com a mètode d'anàlisi dels elements químics inventada l'any 1951 per . Consisteix a bombardejar una mostra amb electrons i analitzar l' dels raigs X emesos per la mostra davant aquest bombardeix d'electrons. La conceentració dels elements des del bor al plutoni es pot mesurar a nivells tan baixos com 100 parts per milió (ppm). Millores recents permeten arribar a nivells d'uns 10 ppm.s permeten arribar a nivells d'uns 10 ppm.
, La microsonde de Castaing (en anglais elec … La microsonde de Castaing (en anglais electron probe microanalyser, EPMA) est une méthode d'analyse élémentaire inventée en 1951 par Raimond Castaing. Elle consiste à bombarder un échantillon avec des électrons et à analyser le spectre des rayons X émis par l'échantillon sous cette sollicitation.ar l'échantillon sous cette sollicitation.
, An electron microprobe (EMP), also known a … An electron microprobe (EMP), also known as an electron probe microanalyzer (EPMA) or electron micro probe analyzer (EMPA), is an analytical tool used to non-destructively determine the chemical composition of small volumes of solid materials. It works similarly to a scanning electron microscope: the sample is bombarded with an electron beam, emitting x-rays at wavelengths characteristic to the elements being analyzed. This enables the abundances of elements present within small sample volumes (typically 10-30 cubic micrometers or less) to be determined, when a conventional accelerating voltage of 15-20 kV is used. The concentrations of elements from lithium to plutonium may be measured at levels as low as 100 parts per million (ppm), material dependent, although with care, levels below 10 ppm are possible. The ability to quantify lithium by EPMA became a reality in 2008. lithium by EPMA became a reality in 2008.
|
| http://dbpedia.org/ontology/thumbnail
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/EPMA.jpg?width=300 +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageExternalLink
|
https://web.archive.org/web/20080604165533/http:/earth.es.huji.ac.il/machon/e-prob/prob.html +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageID
|
1633075
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageInterLanguageLink
|
http://ko.dbpedia.org/resource/%EC%A0%84%EC%9E%90_%ED%98%84%EB%AF%B8%EA%B2%BD +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageLength
|
22384
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageRevisionID
|
1106285800
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageWikiLink
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Microscopes +
, http://dbpedia.org/resource/Trace_element +
, http://dbpedia.org/resource/Metallurgy +
, http://dbpedia.org/resource/Burgess_shale +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_beam +
, http://dbpedia.org/resource/Micrometers +
, http://dbpedia.org/resource/Matrix_effect +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_energy_loss_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/CAMECA +
, http://dbpedia.org/resource/Cathodoluminescence +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Lanthanum_hexaboride +
, http://dbpedia.org/resource/Scanning_electron_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Henry_Moseley +
, http://dbpedia.org/resource/Peter_Duncumb +
, http://dbpedia.org/resource/RCA +
, http://dbpedia.org/resource/Energy_dispersive_X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Mineralogy +
, http://dbpedia.org/resource/Mass_spectrometry +
, http://dbpedia.org/resource/Andr%C3%A9_Guinier +
, http://dbpedia.org/resource/Absorption_%28electromagnetic_radiation%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Geology +
, http://dbpedia.org/resource/University_of_Wisconsin%E2%80%93Madison +
, http://dbpedia.org/resource/JEOL +
, http://dbpedia.org/resource/Tungsten +
, http://dbpedia.org/resource/University_of_Oregon +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Auger_electron +
, http://dbpedia.org/resource/Dentistry +
, http://dbpedia.org/resource/Bragg_diffraction +
, http://dbpedia.org/resource/Fluorescence +
, http://dbpedia.org/resource/Wavelength_dispersive_X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Max_Knoll +
, http://dbpedia.org/resource/Quartz +
, http://dbpedia.org/resource/File:1886VE10-SEM-HD.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:1886VE10-optical.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Electromagnetic_spectrum +
, http://dbpedia.org/resource/Vernon_Ellis_Cosslett +
, http://dbpedia.org/resource/Opabinia +
, http://dbpedia.org/resource/Northern_Arizona_University +
, http://dbpedia.org/resource/Plasmon +
, http://dbpedia.org/resource/File:EPMA.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Nuclear_reactor +
, http://dbpedia.org/resource/Anode +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_volts +
, http://dbpedia.org/resource/Field_emission +
, http://dbpedia.org/resource/X-rays +
, http://dbpedia.org/resource/M%C3%B6ssbauer_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Shimadzu_Corporation +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Analytical_chemistry +
, http://dbpedia.org/resource/Lithium +
, http://dbpedia.org/resource/Nuclear_plant +
, http://dbpedia.org/resource/Category:X-rays +
, http://dbpedia.org/resource/Semiconductor_detector +
, http://dbpedia.org/resource/Plutonium +
, http://dbpedia.org/resource/Phonon +
, http://dbpedia.org/resource/Office_national_d%27%C3%A9tudes_et_de_recherches_a%C3%A9rospatiales +
, http://dbpedia.org/resource/Electronics +
, http://dbpedia.org/resource/Ernst_Ruska +
, http://dbpedia.org/resource/X-ray_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Bremsstrahlung +
, http://dbpedia.org/resource/Charles_Oatley +
, http://dbpedia.org/resource/James_Hillier +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Scientific_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Pol_Duwez +
, http://dbpedia.org/resource/Parts_per_million +
|
| http://dbpedia.org/property/wikiPageUsesTemplate
|
http://dbpedia.org/resource/Template:Commons_category-inline +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Citation_needed +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Short_description +
, http://dbpedia.org/resource/Template:For +
|
| http://purl.org/dc/terms/subject
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Scientific_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Microscopes +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Analytical_chemistry +
, http://dbpedia.org/resource/Category:X-rays +
|
| http://purl.org/linguistics/gold/hypernym
|
http://dbpedia.org/resource/Tool +
|
| http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Electron_microprobe?oldid=1106285800&ns=0 +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/depiction
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/EPMA.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/1886VE10-optical.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/1886VE10-SEM-HD.jpg +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/isPrimaryTopicOf
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Electron_microprobe +
|
| owl:sameAs |
http://zh.dbpedia.org/resource/%E7%94%B5%E5%AD%90%E5%BE%AE%E6%8E%A2%E9%92%88 +
, http://ca.dbpedia.org/resource/Microsonda_d%27electrons +
, http://de.dbpedia.org/resource/Elektronenstrahlmikroanalyse +
, http://fr.dbpedia.org/resource/Microsonde_de_Castaing +
, http://ru.dbpedia.org/resource/%D0%A0%D0%B5%D0%BD%D1%82%D0%B3%D0%B5%D0%BD%D0%BE%D1%81%D0%BF%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%B0%D0%BB%D1%8C%D0%BD%D1%8B%D0%B9_%D0%BC%D0%B8%D0%BA%D1%80%D0%BE%D0%B0%D0%BD%D0%B0%D0%BB%D0%B8%D0%B7 +
, http://ja.dbpedia.org/resource/%E9%9B%BB%E5%AD%90%E7%B7%9A%E3%83%9E%E3%82%A4%E3%82%AF%E3%83%AD%E3%82%A2%E3%83%8A%E3%83%A9%E3%82%A4%E3%82%B6 +
, http://rdf.freebase.com/ns/m.05j7xl +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microprobe +
, https://global.dbpedia.org/id/53tuK +
, http://it.dbpedia.org/resource/Microsonda_elettronica +
, http://fa.dbpedia.org/resource/%D8%B1%DB%8C%D8%B2%DA%A9%D8%A7%D9%88_%D8%A7%D9%84%DA%A9%D8%AA%D8%B1%D9%88%D9%86%DB%8C +
, http://www.wikidata.org/entity/Q911272 +
, http://yago-knowledge.org/resource/Electron_microprobe +
|
| rdf:type |
http://dbpedia.org/class/yago/Magnifier103709206 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Device103183080 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Object100002684 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Instrumentality103575240 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Whole100003553 +
, http://dbpedia.org/ontology/Software +
, http://dbpedia.org/class/yago/WikicatMicroscopes +
, http://dbpedia.org/class/yago/Microscope103760671 +
, http://dbpedia.org/class/yago/ScientificInstrument104147495 +
, http://dbpedia.org/class/yago/PhysicalEntity100001930 +
, http://dbpedia.org/class/yago/WikicatScientificInstruments +
, http://dbpedia.org/class/yago/Artifact100021939 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Instrument103574816 +
|
| rdfs:comment |
Рентгеноспектральный микроанализ (микрорен … Рентгеноспектральный микроанализ (микрорентгеноспектральный анализ, электронно-зондовый рентгеноспектральный анализ, электронно-зондовый микроанализ) — методика, позволяющая с помощью электронного микроскопа или специального электронно-зондового микроанализатора ("микрозонд") получить информацию о химическом составе образца в произвольно выбранном участке микроскопических размеров. Количественный рентгеноспектральный микроанализественный рентгеноспектральный микроанализ
, 電子線マイクロアナライザ（でんしせんマイクロアナライザ、英: Electron Pr … 電子線マイクロアナライザ（でんしせんマイクロアナライザ、英: Electron Probe Micro Analyzer）または電子プローブ微小分析器、略称 EPMAとは電子線を対象物に照射する事により発生する特性X線の波長と強度から構成元素を分析する電子マイクロプローブ（EMP）装置の一つである。二次電子像や反射電子像による観察が主体の電子顕微鏡に特性X線検出器としてエネルギー分散型X線分析(EDS)を付加したもの（分析用のSEMやTEM、など）と比較して、EPMAは元素分析を主体としたものであり、特性X線検出器に波長分散型X線分析(WDS)を用いるために定量精度は良いが検出効率が悪く、より高い照射電流を必要とする。 10~30立方マイクロメータの試料があればホウ素からプルトニウムまで100(ppm)を下限とする検出感度で定量的に分析出来る。ホウ素からプルトニウムまで100(ppm)を下限とする検出感度で定量的に分析出来る。
, Die Elektronenstrahlmikroanalyse (ESMA; engl. electron probe micro analysis, EPMA, oder X-ray microanalysis) dient primär der zerstörungsfreien Analyse von Festkörperoberflächen mit lateraler Auflösung bis zu 1 µm.
, 电子微探针（英語：Electron microprobe，縮寫 EMP），也被称为电 … 电子微探针（英語：Electron microprobe，縮寫 EMP），也被称为电子探针显微分析（electron probe microanalyzer，EPMA）或电子微探针分析仪（electron micro probe analyzer，EMPA），是一種用於非破性檢定少量固體材料化學成分的分析工具。它是用聚焦很细、直径小于1um的电子束轰击待分析试样上的微小区域，对激发出的特征X射线、二次电子、二次离子、背散射电子、俄歇电子、透射电子、吸收电子、阴极荧光等进行探测和信息处理的现代仪器分析方法，是电子光学技术与X射线光谱分析技术交汇的产物。进行探测和信息处理的现代仪器分析方法，是电子光学技术与X射线光谱分析技术交汇的产物。
, La microsonde de Castaing (en anglais elec … La microsonde de Castaing (en anglais electron probe microanalyser, EPMA) est une méthode d'analyse élémentaire inventée en 1951 par Raimond Castaing. Elle consiste à bombarder un échantillon avec des électrons et à analyser le spectre des rayons X émis par l'échantillon sous cette sollicitation.ar l'échantillon sous cette sollicitation.
, La microsonda d'electrons, microsonda elec … La microsonda d'electrons, microsonda electrònica o microsonda de Castaing (en anglès: electron probe microanalyser, EPMA) és una microsonda utilitzada com a mètode d'anàlisi dels elements químics inventada l'any 1951 per . Consisteix a bombardejar una mostra amb electrons i analitzar l' dels raigs X emesos per la mostra davant aquest bombardeix d'electrons. La conceentració dels elements des del bor al plutoni es pot mesurar a nivells tan baixos com 100 parts per milió (ppm). Millores recents permeten arribar a nivells d'uns 10 ppm.s permeten arribar a nivells d'uns 10 ppm.
, An electron microprobe (EMP), also known a … An electron microprobe (EMP), also known as an electron probe microanalyzer (EPMA) or electron micro probe analyzer (EMPA), is an analytical tool used to non-destructively determine the chemical composition of small volumes of solid materials. It works similarly to a scanning electron microscope: the sample is bombarded with an electron beam, emitting x-rays at wavelengths characteristic to the elements being analyzed. This enables the abundances of elements present within small sample volumes (typically 10-30 cubic micrometers or less) to be determined, when a conventional accelerating voltage of 15-20 kV is used. The concentrations of elements from lithium to plutonium may be measured at levels as low as 100 parts per million (ppm), material dependent, although with care, levels below 10ndent, although with care, levels below 10
, Una microsonda elettronica, in inglese con … Una microsonda elettronica, in inglese conosciuta come electron microprobe (EMP) o electron probe microanalyzer (EPMA) o ancora electron micro probe analyzer (EMPA) è uno strumento utilizzato per stabilire la composizione chimica di una piccola quantità di una sostanza solida in maniera non distruttiva. Il suo funzionamento è analogo a quello di un microscopio elettronico a scansione: il campione è bombardato con un fascio di elettroni e questo emette raggi X ad una lunghezza d'onda caratteristica dell'elemento analizzato. Questo permette di determinare l'abbondanza degli elementi presenti in un campione di piccole dimensioni (solitamente 10-30 micrometri cubici). La microsonda elettronica permette di misurare la concentrazione degli elementi compresi fra il boro e il plutonio fino a livelesi fra il boro e il plutonio fino a livel
|
| rdfs:label |
Elektronenstrahlmikroanalyse
, Microsonde de Castaing
, 電子線マイクロアナライザ
, Microsonda elettronica
, Electron microprobe
, Microsonda d'electrons
, 电子微探针
, Рентгеноспектральный микроанализ
|
