| http://dbpedia.org/ontology/abstract
|
A mechanical probe station is used to phys … A mechanical probe station is used to physically acquire signals from the internal nodes of a semiconductor device. The probe station utilizes manipulators which allow the precise positioning of thin needles on the surface of a semiconductor device. If the device is being electrically stimulated, the signal is acquired by the mechanical probe and is displayed on anoscilloscope or SMU. The mechanical probe station is often used in the failure analysis of semiconductor devices. There are two types of mechanical probes: active and passive. Passive probes usually consist of a thin tungsten needle. Active probes utilize a FET device on the probe tip in order to significantly reduce loading on the circuit. Microworld Semi-automatic probing stations for full wafer characterizationg stations for full wafer characterization
, La stazione a sonda meccanica viene impieg … La stazione a sonda meccanica viene impiegata per acquisire segnali dai nodi interni dei dispositivi a semiconduttori. La stazione utilizza dei manipolatori che consentono il posizionamento esatto di sottili aghi sulla superficie dei dispositivi. Se si sta stimolando elettricamente il dispositivo, il segnale viene acquisito dalla sonda meccanica e riportato su un oscilloscopio o altri strumenti di misura. La stazione a sonde meccaniche viene soventemente usata nella analisi dei guasti di dispositivi a semiconduttori. Vista ravvicinata delle sonde. Sono disponibili due tipi di sonde meccaniche: attive e passive. Le sonde passive consistono solitamente di un sottile ago di tungsteno. Le sonde attive utilizzano un dispositivo FET sulla punta della sonda per ridurre significativamente il carico del circuito.significativamente il carico del circuito.
, محطة المسبار الميكانيكي (بالإنجليزية: Mech … محطة المسبار الميكانيكي (بالإنجليزية: Mechanical probe station) تستخدم لتلتقط الإشارات بشكل فيزيائي من العقد الداخلية لجهاز شبه موصل. محطة المسبار تستخدم مناورات (بالإنجليزية : Manipulator) تسمح بتموضع دقيق لإبر رفيعة على سطح الجهاز شبه الموصل. إذا كان الجهاز يُحفَّز كهربائيًا؛ سيتم التقاط الإشارة بواسطة المسبار الميكانيكي و عرضها على جهاز راسم الإشارة أو جهاز وحدة قياس المصدر (بالإنجليزية : (Source measure unit (SMU). محطة المسبار الميكانيكي تستخدم عادةً في تحليل الإخفاق لجهاز شبه موصل. هناك نوعان من المسبار الميكانيكي: إيجابي Active، و سلبي Passive. المسبار السلبي يستخدم إبرة رفيعة من التنجستن، أما الإيجابي يستخدم ترانزستور تأثير المجال (بالإنجليزية : Field-effect transistor) على رأس المسبار للتقليل إلى أدنى حد من حمله على الدارة.ار للتقليل إلى أدنى حد من حمله على الدارة.
|
| http://dbpedia.org/ontology/thumbnail
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Cascade_Microtech_probe_station.jpg?width=300 +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageExternalLink
|
http://www.lakeshore.com/products/cryogenic-probe-stations/pages/cryogenic-probe-stations.aspx +
, https://4d.microworld.eu/stations-semi-automatiques-6/ +
, https://www.micromanipulator.com/products/probe-stations/p200l-200mm/ +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageID
|
8506146
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageLength
|
2171
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageRevisionID
|
990591292
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageWikiLink
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductor_analysis +
, http://dbpedia.org/resource/File:Microworld_Semi_Automatic_Probe_Station.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Cascade_Microtech_probe_station.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Wire_bonding +
, http://dbpedia.org/resource/Oscilloscope +
, http://dbpedia.org/resource/Materials_science +
, http://dbpedia.org/resource/Source_measure_unit +
, http://dbpedia.org/resource/Low_temperature_physics +
, http://dbpedia.org/resource/Cryogen +
, http://dbpedia.org/resource/Vacuum_chamber +
, http://dbpedia.org/resource/Academic_research +
, http://dbpedia.org/resource/Failure_analysis +
|
| http://dbpedia.org/property/wikiPageUsesTemplate
|
http://dbpedia.org/resource/Template:Tech-stub +
|
| http://purl.org/dc/terms/subject
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductor_analysis +
|
| http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Mechanical_probe_station?oldid=990591292&ns=0 +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/depiction
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Desert_Cryogenics_probe_station.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Micromanipulator_Semiautomatic_Probe_Station.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Microworld_Semi_Automatic_Probe_Station.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Cascade_Microtech_probe_station.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Cascade_Microtech_probe_station_close-up.jpg +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/isPrimaryTopicOf
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Mechanical_probe_station +
|
| owl:sameAs |
http://rdf.freebase.com/ns/m.0275x63 +
, http://www.wikidata.org/entity/Q3968797 +
, http://ar.dbpedia.org/resource/%D9%85%D8%AD%D8%B7%D8%A9_%D9%85%D8%B3%D8%A8%D8%A7%D8%B1_%D9%85%D9%8A%D9%83%D8%A7%D9%86%D9%8A%D9%83%D9%8A +
, http://it.dbpedia.org/resource/Stazione_a_sonda_meccanica +
, https://global.dbpedia.org/id/3frCn +
, http://dbpedia.org/resource/Mechanical_probe_station +
|
| rdfs:comment |
محطة المسبار الميكانيكي (بالإنجليزية: Mech … محطة المسبار الميكانيكي (بالإنجليزية: Mechanical probe station) تستخدم لتلتقط الإشارات بشكل فيزيائي من العقد الداخلية لجهاز شبه موصل. محطة المسبار تستخدم مناورات (بالإنجليزية : Manipulator) تسمح بتموضع دقيق لإبر رفيعة على سطح الجهاز شبه الموصل. إذا كان الجهاز يُحفَّز كهربائيًا؛ سيتم التقاط الإشارة بواسطة المسبار الميكانيكي و عرضها على جهاز راسم الإشارة أو جهاز وحدة قياس المصدر (بالإنجليزية : (Source measure unit (SMU). محطة المسبار الميكانيكي تستخدم عادةً في تحليل الإخفاق لجهاز شبه موصل.خدم عادةً في تحليل الإخفاق لجهاز شبه موصل.
, A mechanical probe station is used to phys … A mechanical probe station is used to physically acquire signals from the internal nodes of a semiconductor device. The probe station utilizes manipulators which allow the precise positioning of thin needles on the surface of a semiconductor device. If the device is being electrically stimulated, the signal is acquired by the mechanical probe and is displayed on anoscilloscope or SMU. The mechanical probe station is often used in the failure analysis of semiconductor devices. Microworld Semi-automatic probing stations for full wafer characterizationg stations for full wafer characterization
, La stazione a sonda meccanica viene impieg … La stazione a sonda meccanica viene impiegata per acquisire segnali dai nodi interni dei dispositivi a semiconduttori. La stazione utilizza dei manipolatori che consentono il posizionamento esatto di sottili aghi sulla superficie dei dispositivi. Se si sta stimolando elettricamente il dispositivo, il segnale viene acquisito dalla sonda meccanica e riportato su un oscilloscopio o altri strumenti di misura. La stazione a sonde meccaniche viene soventemente usata nella analisi dei guasti di dispositivi a semiconduttori. Vista ravvicinata delle sonde.conduttori. Vista ravvicinata delle sonde.
|
| rdfs:label |
Stazione a sonda meccanica
, محطة مسبار ميكانيكي
, Mechanical probe station
|
