| http://dbpedia.org/ontology/abstract
|
Mikroskop polowy / projektor elektronowy ( … Mikroskop polowy / projektor elektronowy (ang. field emission microscope) – najprostsza forma emisyjnego mikroskopu elektronowego. W mikroskopie tym silne pole elektryczne jest wykorzystane do emisji polowej i uzyskania obrazu. Pierwszy projektor zbudował w 1936 roku fizyk niemiecki Erwin Müller. w 1936 roku fizyk niemiecki Erwin Müller.
, Un microscopi d'efecte de camp (en anglès … Un microscopi d'efecte de camp (en anglès FEM, Field emission microscopy), és la forma més simple de microscopi electrònic. En aquest microscopi s'utilitza un fort camp elèctric per generar una emissió per efecte de camp amb obtenció d'imatges. El primer microscopi va ser construït el 1936 pel físic alemany . Consisteix en un càtode metàl·lic d'alt punt de fusió com el tungstè que es col·loca en un matràs amb el fons recobert amb fòsfor, tot en el buit. Aplicant un voltatge de diverses desenes de milers de volts entre el càtode i l'ànode, es provoca una intensitat de camp prop del càtode de milions de volt/m, que dona lloc a l'emissió per efecte de camp des d'aquest. Els electrons emesos són accelerats a un ventilador camp aplicat radialment i es forma una imatge de la punta del càtode.s forma una imatge de la punta del càtode.
, Un microscopio de efecto de campo (microsc … Un microscopio de efecto de campo (microscopio/proyector de electrones), es la forma más simple de microscopio electrónico. En este microscopio se utiliza un fuerte campo eléctrico para generar una emisión por efecto de campo con obtención de imágenes. El primer microscopio fue construido en 1936, por el físico alemán .construido en 1936, por el físico alemán .
, Field-emission microscopy (FEM) is an anal … Field-emission microscopy (FEM) is an analytical technique used in materials science to investigate molecular surface structures and their electronic properties. Invented by Erwin Wilhelm Müller in 1936, the FEM was one of the first surface-analysis instruments that approached near-atomic resolution.ts that approached near-atomic resolution.
, Електронний проєктор (або автоелектронний … Електронний проєктор (або автоелектронний мікроскоп, англ. Field emission microscope) – безлінзовий електронно-оптичний прилад для отримання збільшеного в мільйони разів зображення поверхні твердого тіла. Винайдений в 1936 німецьким фізиком Е. Мюллером.Його конструкція містить катод у вигляді дротини з точковим емітером на кінці, радіус кривизни якого м. Анод виготовляється у вигдяді порожнистої сфери, внутрішня поверхня якої покрита шаром люмінофора та металізації. Із колби відкачується повітря (залишковий тиск мм рт.ст.). Коли на анод подається позитивна напруга в декілька тисяч вольт відносно голкового катода, напруженість електричного поля поблизу точкового емітера досягає В/м). Це забезпечує інтенсивну автоелектронну емісію. Емітовані електрони, прискорюючись в радіальних напрямах, бомбардують екран, викликаючи спалахи люмінофора, та створюють на екрані збільшене контрастне зображення поверхні катода, яке відображає її кристалічну структуру. Збільшення електронного проєктора дорівнює відношенню радіусів зовнішньої сфери до радіуса точкового емітера. Роздільна здатність обмежена наявністю тангенціальних складових швидкостей автоелектронів біля кінчика голки та в меншій мірі – дифракцією електронів. та в меншій мірі – дифракцією електронів.
, Электронный проектор (или Автоэлектронный … Электронный проектор (или Автоэлектронный микроскоп) -(или Field emission microscopy) безлинзовый электронно-оптический прибор для получения увеличенного в миллионы раз изображения поверхности твердого тела. Изобретен в 1936 немецким физиком Э.Мюллером. Его конструкция содержит катод в виде проволочки с точечным эмиттером на конце, радиус кривизны которого м. Анод изготовляется в виде полой сферы, внутренняя поверхность которой покрыта слоем люминофора и металлизацией.Из колбы откачивается воздух (остаточное давление )мм.рт.ст. Когда на анод подается положительное напряжение в несколько тысяч вольт относительно игольчатого катода, напряженность электрического поля вблизи точечного эмиттера достигает В/м). Это обеспечивает интенсивную автоэлектронную эмиссию. Эмитированные электроны ускоряясь в радиальных направлениях, бомбардируют экран, вызывая свечение люминофора, и создают на экране увеличенное контрастное изображение поверхности катода, отражающее её кристаллическую структуру. Увеличение электронного проектора равно отношению радиусов внешней сферы к радиусу точечного эмиттера. Разрешающая способность ограничена наличием тангенциальных составляющих скоростей автоэлектронов у кончика острия и в меньшей степени — дифракцией электронов.в меньшей степени — дифракцией электронов.
, Das Feldelektronenmikroskop (auch: Feldemi … Das Feldelektronenmikroskop (auch: Feldemissionsmikroskop, selten: Spitzenübermikroskop) gehört zu den hochauflösenden Mikroskopen, mit denen eine räumliche Auflösung im atomaren Bereich möglich ist. So können in zu untersuchenden Proben Atome sichtbar gemacht werden. Dieses Instrument ist 1936 von Erwin Wilhelm Müller entwickelt worden.on Erwin Wilhelm Müller entwickelt worden.
|
| http://dbpedia.org/ontology/thumbnail
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/FieldEmission-Setup.png?width=300 +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageID
|
30857461
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageLength
|
5930
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageRevisionID
|
1123324703
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageWikiLink
|
http://dbpedia.org/resource/Field_ion_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Optical_resolution +
, http://dbpedia.org/resource/Atom_probe +
, http://dbpedia.org/resource/Work_function +
, http://dbpedia.org/resource/List_of_surface_analysis_methods +
, http://dbpedia.org/resource/Ultra-high_vacuum +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Electron_microscopy_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Refractory_metals +
, http://dbpedia.org/resource/Adsorption +
, http://dbpedia.org/resource/Atom +
, http://dbpedia.org/resource/File:FieldEmission-Setup.png +
, http://dbpedia.org/resource/Faraday_cup +
, http://dbpedia.org/resource/Materials_science +
, http://dbpedia.org/resource/Surface_diffusion +
, http://dbpedia.org/resource/Tungsten +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Scientific_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Fermi_velocity +
, http://dbpedia.org/resource/Erwin_Wilhelm_M%C3%BCller +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Microscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Crystallography +
, http://dbpedia.org/resource/Field_electron_emission +
, http://dbpedia.org/resource/Melting_point +
|
| http://dbpedia.org/property/wikiPageUsesTemplate
|
http://dbpedia.org/resource/Template:Short_description +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Reflist +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Refbegin +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Refend +
|
| http://purl.org/dc/terms/subject
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Scientific_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Electron_microscopy_techniques +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Microscopy +
|
| http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Field-emission_microscopy?oldid=1123324703&ns=0 +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/depiction
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/FieldEmission-Setup.png +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/isPrimaryTopicOf
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Field-emission_microscopy +
|
| owl:sameAs |
http://es.dbpedia.org/resource/Microscopio_de_efecto_de_campo +
, http://pl.dbpedia.org/resource/Mikroskop_polowy +
, http://uz.dbpedia.org/resource/Avtoelektron_proyektor +
, http://www.wikidata.org/entity/Q905455 +
, http://de.dbpedia.org/resource/Feldelektronenmikroskop +
, http://ca.dbpedia.org/resource/Microscopi_d%27efecte_de_camp +
, http://uk.dbpedia.org/resource/%D0%95%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D0%B8%D0%B9_%D0%BF%D1%80%D0%BE%D1%94%D0%BA%D1%82%D0%BE%D1%80 +
, http://ru.dbpedia.org/resource/%D0%AD%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D1%8B%D0%B9_%D0%BF%D1%80%D0%BE%D0%B5%D0%BA%D1%82%D0%BE%D1%80 +
, https://global.dbpedia.org/id/545V9 +
, http://hy.dbpedia.org/resource/%D4%B7%D5%AC%D5%A5%D5%AF%D5%BF%D6%80%D5%B8%D5%B6%D5%A1%D5%B5%D5%AB%D5%B6_%D5%BA%D6%80%D5%B8%D5%B5%D5%A5%D5%AF%D5%BF%D5%B8%D6%80 +
, http://dbpedia.org/resource/Field-emission_microscopy +
|
| rdfs:comment |
Un microscopi d'efecte de camp (en anglès … Un microscopi d'efecte de camp (en anglès FEM, Field emission microscopy), és la forma més simple de microscopi electrònic. En aquest microscopi s'utilitza un fort camp elèctric per generar una emissió per efecte de camp amb obtenció d'imatges. El primer microscopi va ser construït el 1936 pel físic alemany . ser construït el 1936 pel físic alemany .
, Электронный проектор (или Автоэлектронный микроскоп) -(или Field emission microscopy) безлинзовый электронно-оптический прибор для получения увеличенного в миллионы раз изображения поверхности твердого тела. Изобретен в 1936 немецким физиком Э.Мюллером.
, Електронний проєктор (або автоелектронний … Електронний проєктор (або автоелектронний мікроскоп, англ. Field emission microscope) – безлінзовий електронно-оптичний прилад для отримання збільшеного в мільйони разів зображення поверхні твердого тіла. Винайдений в 1936 німецьким фізиком Е. Мюллером.Його конструкція містить катод у вигляді дротини з точковим емітером на кінці, радіус кривизни якого м. Анод виготовляється у вигдяді порожнистої сфери, внутрішня поверхня якої покрита шаром люмінофора та металізації. Із колби відкачується повітря (залишковий тиск мм рт.ст.). Коли на анод подається позитивна напруга в декілька тисяч вольт відносно голкового катода, напруженість електричного поля поблизу точкового емітера досягає В/м). Це забезпечує інтенсивну автоелектронну емісію. Емітовані електрони, прискорюючись в радіальних напрямах,рони, прискорюючись в радіальних напрямах,
, Field-emission microscopy (FEM) is an anal … Field-emission microscopy (FEM) is an analytical technique used in materials science to investigate molecular surface structures and their electronic properties. Invented by Erwin Wilhelm Müller in 1936, the FEM was one of the first surface-analysis instruments that approached near-atomic resolution.ts that approached near-atomic resolution.
, Das Feldelektronenmikroskop (auch: Feldemi … Das Feldelektronenmikroskop (auch: Feldemissionsmikroskop, selten: Spitzenübermikroskop) gehört zu den hochauflösenden Mikroskopen, mit denen eine räumliche Auflösung im atomaren Bereich möglich ist. So können in zu untersuchenden Proben Atome sichtbar gemacht werden. Dieses Instrument ist 1936 von Erwin Wilhelm Müller entwickelt worden.on Erwin Wilhelm Müller entwickelt worden.
, Un microscopio de efecto de campo (microsc … Un microscopio de efecto de campo (microscopio/proyector de electrones), es la forma más simple de microscopio electrónico. En este microscopio se utiliza un fuerte campo eléctrico para generar una emisión por efecto de campo con obtención de imágenes. El primer microscopio fue construido en 1936, por el físico alemán .construido en 1936, por el físico alemán .
, Mikroskop polowy / projektor elektronowy ( … Mikroskop polowy / projektor elektronowy (ang. field emission microscope) – najprostsza forma emisyjnego mikroskopu elektronowego. W mikroskopie tym silne pole elektryczne jest wykorzystane do emisji polowej i uzyskania obrazu. Pierwszy projektor zbudował w 1936 roku fizyk niemiecki Erwin Müller. w 1936 roku fizyk niemiecki Erwin Müller.
|
| rdfs:label |
Електронний проєктор
, Feldelektronenmikroskop
, Microscopio de efecto de campo
, Microscopi d'efecte de camp
, Mikroskop polowy
, Электронный проектор
, Field-emission microscopy
|
